[发明专利]存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具

说明书

技术领域

本发明涉及一种发光二极管的测试方法及其测试工具，特别是涉及一种对存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具。 

背景技术

随着信息的快速且大量的成长，使得存储装置的容量也逐步的加大及加快。为了能让使用者明显的辨认存储装置是否在存取中，一般而言会在存储装置上会设置有一发光二极管。当存储装置有数据被写入/读取时，存储装置会驱动发光二极管。在数据的写入过程中，发光二极管会根据写入的频率/时间影响其发光的频率与时间。 

对于生产厂商而言，为了测试存储装置的发光二极管的运作状态。需要对存储装置进行大量的数据存取，使得发光二极管持续的运作，测试人员才能判断是否正常。这样一来，存储装置的寿命势必受到损耗。因此，测试人员还提出利用基本输入/输出系统(Basic Input/Output System，BIOS)所提供的中断方法来对发光二极管进行测试。但是，这种测试方法有下列缺点：1.发光二极管会出现闪烁的现象，而且在不同测试环境下闪烁的亮度也有所不同。2.存储装置存取数据的方法也会对发光二极管的发光亮度产生影响。这是因为存储装置中的缓冲区会对读写数据进行保存。所以当缓冲区中的数据量不足时，发光二极管的发光量亦会受到影响。3.如果采用BIOS的中断方式，会因为BIOS目前不支持存储装置(如硬盘)的状况较多。即使支持，它上面的发光二极管所发出亮度也达不到目标亮度的要求。 

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种存储装置的发光二极管的测试方法，用于对存储装置的发光二极管进行压力测试。 

为了实现上述目的，本发明提供了一种存储装置的发光二极管的测试方 法，其特征在于，对独立的存储装置所属的一发光二极管进行发光测试，该测试方法包括以下步骤： 

将该存储装置连接于一测试工具，其具有一测试程序与多笔测试数据； 

初始该存储装置； 

执行一测试程序，用以对该存储装置的端口发送该些测试数据； 

通过对该存储装置的存取，使得该存储装置驱动该发光二极管；以及 

根据该发光二极管的亮度与发光频率，判断该发光二极管的运作状态。 

所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其中，该存储装置为一软式磁碟机、一硬式磁碟机、一闪存或一光学存储装置。 

所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其中，执行该测试程序还包括以下步骤： 

从一周边装置接口设置空间中选择相应的该端口； 

提供不同文件大小的多笔测试数据；以及 

分别对该存储装置中的各扇区逐次载入该些测试数据。 

所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其中，该些端口为1f0h或170h。 

所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其中，执行该测试程序还包括以下步骤： 

从一周边装置接口设置空间中选择相应的该端口； 

从该周边装置中调用该些测试数据； 

再经过一预设时间后，调整该些测试数据的调用频率；以及 

根据该些测试数据的调用频率，调整该些测试数据的发送频率。 

从本发明的另一观点，本发明提出一种测试存储装置的发光二极管的测试工具，其用以测试独立的存储装置所属的发光二极管。 

为了实现上述目的，本发明还提供了一种测试存储装置的发光二极管的测试工具，其用以测试独立的存储装置所属的一发光二极管，其特征在于，该测试工具包括有： 

一连接接口，其用以连接于一存储装置的相应的一连接接口； 

一存储单元，其用以存储一测试程序与多笔测试数据；以及 

一处理单元，其电性连接于该连接接口与该存储单元，该处理单元用以执行该测试程序，用以选择该存储装置的一端口并对该端口发送该些测试数据，通过对该存储装置的该端口的存取，使得该存储装置驱动该发光二极管。 

所述的测试存储装置的发光二极管的测试工具，其122    处理单元 

所述的测试存储装置的发光二极管的测试工具，其中，该些端口为1f0h或170h。 

本发明提供一种对存储装置的发光二极管的测试方法。在本发明中通过访问存储装置的端口，用以驱动发光二极管的发光。使得测试人员不需通过读写文件的方式，也可以驱动存储装置与其发光二极管运作。如此一来，除了可以降低存储装置的存取次数，亦可以达成测试存储装置的发光二极管的目的。