[发明专利]存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具

权利要求书

1.一种存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在于，对独立的存储装 置所属的一发光二极管进行发光测试，该测试方法包括以下步骤：

将该存储装置连接于一测试工具，其具有一测试程序与多笔测试数据；

初始该存储装置；

执行一测试程序，用以对该存储装置的端口发送该些测试数据；

通过对该存储装置的存取，使得该存储装置驱动该发光二极管；以及

根据该发光二极管的亮度与发光频率，判断该发光二极管的运作状态。

2.根据权利要求1所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在 于，该存储装置为一软式磁碟机、一硬式磁碟机、一闪存或一光学存储装置。

3.根据权利要求1所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在 于，执行该测试程序还包括以下步骤：

从一周边装置接口设置空间中选择相应的该端口；

提供不同文件大小的多笔测试数据；以及

分别对该存储装置中的各扇区逐次载入该些测试数据。

4.根据权利要求3所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在 于，该些端口为1f0h或170h。

5.根据权利要求1所述的存储装置的发光二极管的测试方法，其特征在 于，执行该测试程序还包括以下步骤：

从一周边装置接口设置空间中选择相应的该端口；

从该周边装置中调用该些测试数据；

再经过一预设时间后，调整该些测试数据的调用频率；以及

根据该些测试数据的调用频率，调整该些测试数据的发送频率。

6.一种测试存储装置的发光二极管的测试工具，其用以测试独立的存储装 置所属的一发光二极管，其特征在于，该测试工具包括有：

一连接接口，其用以连接于一存储装置的相应的一连接接口；

一存储单元，其用以存储一测试程序与多笔测试数据；以及

一处理单元，其电性连接于该连接接口与该存储单元，该处理单元用以执 行该测试程序，用以选择该存储装置的一端口并对该端口发送该些测试数据， 通过对该存储装置的该端口的存取，使得该存储装置驱动该发光二极管。

7.根据权利要求6所述的测试存储装置的发光二极管的测试工具，其特征 在于，该存储装置为一软式磁碟机、一硬式磁碟机、一闪存或一光学存储装置。

8.根据权利要求6所述的测试存储装置的发光二极管的测试工具，其特征 在于，该些端口为1f0h或170h。