[发明专利]玻璃波纹检测装置以及其检测方法有效

专利信息
申请号: 200880129323.3 申请日: 2008-05-27
公开(公告)号: CN102037394A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 李淳钟;禹奉周;崔成振;李暻洙 申请(专利权)人: 塞米西斯科株式会社;乐金显示有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星;李娜娜
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 玻璃 波纹 检测 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种玻璃波纹检测装置,所述玻璃波纹检测装置包括用于检查即将经由输送单元供应至处理设备的玻璃的表面上的波纹的检测单元,所述检测单元包括:

照明器,发射光;

第二镜面,反射由所述照明器发射的光;

屏幕,当所述玻璃透射自所述第二镜面反射的光时透射的光在屏幕上投影为阴影图像;

图像处理器,捕获对应于所述玻璃的表面且投影于所述屏幕上的所述阴影图像;以及

波纹检测器,自通过所述图像处理器捕获的所述阴影图像移除归因于外部因素的噪声且基于关于所述噪声经移除的所述阴影图像的信息来检测所述玻璃的表面上的波纹。

2.如权利要求1所述的玻璃波纹检测装置,其中所述照明器包括氙气灯、红外线光源以及发光二极管中的一者。

3.如权利要求1或权利要求2所述的玻璃波纹检测装置,所述玻璃波纹检测装置还包括狭缝,狭缝提供于所述照明器的前端处且将来自所述照明器的所述光仅引导至所述第二镜面。

4.如权利要求1或权利要求2所述的玻璃波纹检测装置,其中所述第二镜面以10°至90°的角度安装以控制所述光的入射角。

5.如权利要求3所述的玻璃波纹检测装置,所述玻璃波纹检测装置还包括滤光片构件,滤光片构件提供于所述狭缝的前端处且仅允许具有特定频带的波长的光通过。

6.如权利要求5所述的玻璃波纹检测装置,其中所述滤光片构件包括紫外线滤光片,紫外线滤光片仅允许紫外线区域的波长通过,或仅允许可见光区域以及红外线区域的波长通过紫外线滤光片同时仅滤除所述紫外线区域的波长。

7.如权利要求5所述的玻璃波纹检测装置,其中所述滤光片构件包括可见光滤光片,可见光滤光片仅允许可见光区域的特定波长通过,且允许长于特定波长的波长通过可见光滤光片同时仅滤除短于所述特定波长的波长,或允许短于特定波长的波长通过可见光滤光片同时仅滤除长于所述特定波长的波长。

8.如权利要求5所述的玻璃波纹检测装置,其中所述滤光片构件包括红外线滤光片,红外线滤光片仅允许红外线区域的特定波长通过,且允许长于特定波长的波长通过红外线滤光片同时仅滤除短于所述特定波长的波长,或允许短于特定波长的波长通过红外线滤光片同时仅滤除长于所述特定波长的波长。

9.如权利要求1所述的玻璃波纹检测装置,其中所述图像处理器包括线扫描电荷耦合装置(CCD)相机。

10.一种玻璃波纹检测装置,所述玻璃波纹检测装置包括用于检查待经由输送单元供应至处理设备的玻璃的表面上的波纹的检测单元,所述检测单元包括:

照明器,发射光;

第一镜面,透射自所述照明器发射的一些光且朝向特定方向反射一些光;

第二镜面,反射通过所述第一镜面的一些光使得所述经反射光通过所述玻璃;

第一光量检测器,检测自所述第二镜面反射且通过所述玻璃的光的量;

第二光量检测器,检测自所述第一镜面朝向所述特定方向反射的所述光的量;以及

波纹检测器,比较由所述第一光量检测器以及所述第二光量检测器检测的所述光量,移除归因于外部因素的噪声,且检测所述噪声经移除的所述玻璃的表面上的波纹。

11.如权利要求10所述的玻璃波纹检测装置,其中所述照明器包括氙气灯、红外线光源以及发光二极管中的一者。

12.如权利要求10所述的玻璃波纹检测装置,其中所述第二镜面以10°至90°的角度安装以控制所述光的入射角。

13.如权利要求10或权利要求11所述的玻璃波纹检测装置,所述玻璃波纹检测装置还包括狭缝,狭缝提供于所述照明器的前端处且设定所述光的照射范围以检测所述玻璃的特定区域。

14.如权利要求13所述的玻璃波纹检测装置,所述玻璃波纹检测装置还包括滤光片构件,滤光片构件提供于所述狭缝的前端处且仅允许具有特定频带的波长的光通过。

15.如权利要求10所述的玻璃波纹检测装置,其中所述第一镜面包括半镜面。

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