[发明专利]用于CMOS成像像素检测器的紧凑且精确的模拟存储器无效

专利信息
申请号: 200880117824.X 申请日: 2008-11-26
公开(公告)号: CN101874273A 公开(公告)日: 2010-10-27
发明(设计)人: 维塔利·苏什科夫 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: G11C27/02 分类号: G11C27/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 cmos 成像 像素 检测器 紧凑 精确 模拟 存储器
【权利要求书】:

1.一种模拟存储器电路,包括:

存储电容器(102),存储电容器(102)的第一端连接至第一端口(104),第一端口(104)用于连接至基准电位(106);

第一晶体管(108),第一晶体管(108)的漏极连接至存储电容器(102)的第二端,第一晶体管(108)的源极连接至第二端口(110),第二端口(110)用于连接至提供输入信号以存储在存储电容器(102)中的电路(112),第一晶体管(108)的栅极连接至第三端口(114),第三端口(114)用于连接至第一电流宿(116);

第二晶体管(118),第二晶体管(118)的源极连接至第一晶体管(108)的源极,第二晶体管(118)的漏极连接至第一晶体管(108)的栅极;以及

第三晶体管(120),第三晶体管(120)的源极连接至第一晶体管(108)的源极,第三晶体管(120)的栅极和漏极一起连接至第二晶体管(118)的栅极和第四端口(122),第四端口(122)用于连接至第二电流宿(124)。

2.根据权利要求1所述的模拟存储器电路,包括:

第四晶体管(302),第四晶体管(302)的漏极连接至存储电容器(102)的第一端,第四晶体管(302)的源极连接至第五端口(304),第五端口(304)用于连接至第二基准电位(306),第四晶体管(302)的栅极连接至第六端口(308),第六端口(308)用于连接至电压时钟驱动(310)。

3.根据权利要求1或2所述的模拟存储器电路,其中,第二晶体管(118)和第三晶体管(120)被设计为使得在操作中,当第一晶体管(108)处于导通状态以接收输入信号并将输入信号提供至存储电容器(102)以存储在存储电容器(102)中时,第一晶体管(108)的源极和栅极基本上处于相等的电位。

4.根据权利要求3所述的模拟存储器电路,其中,第二晶体管(118)和第三晶体管(120)被设计为使得在操作中,第二晶体管(118)的栅极电位跟随第一晶体管(108)的源极电位,所述源极电位根据输入信号而变化。

5.根据权利要求4所述的模拟存储器电路,其中,第二晶体管(118)和第三晶体管(120)被设计为使得在操作中,第二晶体管(118)的漏极至源极电阻基本上保持恒定。

6.根据权利要求5所述的模拟存储器电路,其中,第二晶体管(118)和第三晶体管(120)被设计为使得在操作中,第三晶体管(120)提供栅极偏置电位,以使第二晶体管(118)的漏极至源极电阻基本上保持恒定。

7.根据权利要求6所述的模拟存储器电路,其中,第二晶体管(118)和第三晶体管(120)基本上尺寸相同。

8.根据权利要求1所述的模拟存储器电路,包括:

第二存储电容器(202),第二存储电容器(202)的第一端连接至第一端口(104);

第四晶体管(208),第四晶体管(208)的漏极连接至第二存储电容器(202)的第二端,第四晶体管(208)的源极连接至第二端口(110),第四晶体管(208)的栅极连接至第五端口(214),第五端口用于连接至第三电流宿(216);以及

第五晶体管(218),第五晶体管(218)的源极连接至第四晶体管(208)的源极,第五晶体管(218)的漏极连接至第四晶体管(208)的栅极,第五晶体管(218)的栅极与第二晶体管(118)的栅极和第三晶体管(120)的漏极一起连接至第四端口(122)。

9.根据权利要求8所述的模拟存储器电路,其中,第二晶体管(118)和第三晶体管(120)被设计为使得在操作中,当第一晶体管(108)处于导通状态以接收输入信号并将输入信号提供至存储电容器(102)以存储在存储电容器(102)中时,第一晶体管(108)的源极和栅极基本上处于相等的电位,

第五晶体管(218)和第三晶体管(120)被设计为使得在操作中,当第四晶体管(208)处于导通状态以接收输入信号并将输入信号提供至第二存储电容器(202)以存储在第二存储电容器(202)中时,第四晶体管(208)的源极和栅极基本上处于相等的电位。

10.根据权利要求9所述的模拟存储器电路,其中,第二端口(110)连接至源极跟随器电路(212),

在操作中,模拟存储器电路执行相关双重采样。

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