[发明专利]用于测试逻辑模块中的地址总线的方法有效

专利信息
申请号: 200880111525.5 申请日: 2008-09-10
公开(公告)号: CN101821718A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: T·施奈德;P·沃思;O·普菲特泽 申请(专利权)人: 罗伯特.博世有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 宣力伟
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 逻辑 模块 中的 地址 总线 方法
【权利要求书】:

1.用于测试逻辑模块(10)中的地址总线(14)的方法,其中在 所述逻辑模块(10)中设有至少一个数据寄存器(20),其特征在于, 至少一个被地址译码器(18)在访问时识别的地址通过所述地址译码 器(18)被写入所述数据寄存器(20)中,所述地址被读取用于检查 所述地址总线(14)的功能性。

2.如权利要求1所述的方法,其中数据寄存器(20)在下一次读 访问时被读出。

3.如权利要求1或2所述的方法,其中通过以标准值写入逻辑模 块(10)中的存储单元,附加地对数据总线(16)加以测试。

4.如权利要求1或2所述的方法,所述方法在读访问时被实施。

5.如权利要求1或2所述的方法,所述方法在写访问时被实施。

6.如权利要求1或2所述的方法,所述方法用于检查印制导线。

7.逻辑模块,用于实施按照权利要求1至6中任一项所述的方法, 在所述逻辑模块中设有至少一个数据寄存器(20),其特征在于,将 至少一个被地址译码器(18)识别的地址通过所述地址译码器(18) 写入所述数据寄存器(20)中;还具有用于读取所述用于检查地址总 线(14)功能性的地址的机构。

8.如权利要求7所述的逻辑模块,所述逻辑模块被设计成ASIC。

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