[发明专利]用于无机材料的选择区域沉积的有机硅氧烷材料有效
申请号: | 200880109095.3 | 申请日: | 2008-09-17 |
公开(公告)号: | CN101809187A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | C·杨;L·M·欧文;D·H·莱维;P·J·考德里-科尔万;D·C·弗里曼 | 申请(专利权)人: | 伊斯曼柯达公司 |
主分类号: | C23C16/04 | 分类号: | C23C16/04;C23C16/455 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 赵苏林;韦欣华 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 无机 材料 选择 区域 沉积 有机硅 | ||
技术领域
本发明总的涉及在使用薄膜金属、金属氧化物材料等的原子层沉积 的方法中将所述材料选择区域沉积到基板上。具体而言,本发明涉及在 选择区域沉积中可用作沉积抑制剂的有机硅氧烷化合物。
背景技术
当今的电子器件要求电学或光学反应性物质的多层构图层,有时需 要在相对较大的基板上。电子器件,例如射频识别(RFID)标签、光伏 器件(photovoltaics)、光学和化学感应器等在它们的电路中均需要具 有一定程度的构图(patterning)。平板显示器,例如液晶显示器或电致发 光显示器(例如OLED)精确依赖于构图的连续层来形成背板中的薄膜 组件。这些组件包括电容器、晶体管和电源总线。为了提高性能和降低 成本,业界一直以来都在寻找材料沉积和层构图的新方法。
薄膜晶体管(TFT)可认为是众多薄膜组件的电子和制造方面的代 表。TFT广泛用作电子器件中的开关元件,这些电子器件例如是有源矩 阵液晶显示器,智能卡,以及各种其它的电子器件及其组件。薄膜晶体 管(TFT)是场效应晶体管(FET)的一种。最知名的FET的例子是 MOSFET(金属氧化物半导体-FET),这是当今高速应用中常规的开关 元件。薄膜晶体管通常用在需要将晶体管贴附至基板的应用中。制造薄 膜晶体管的一个关键步骤包含将半导体沉积在基板上。目前,大多数薄 膜器件都是以真空沉积的无定形硅作为半导体来制备,而该半导体的构 图通过使用传统的照相平版印刷方法来实现。
无定形硅作为半导体用于TFT中仍然存在缺陷。在制造晶体管的过 程中,无定形硅的沉积需要相对困难或复杂的过程,例如通过等离子增 强的化学气相沉积和高温(通常为360℃)来获得足够的电气特性以满 足显示应用的需要。如此高的加工温度使得无法在由某些塑料制成的基 板上进行沉积,而在如柔性显示器这样的应用中却希望使用这类基板。
人们对在塑料或柔性基板上沉积薄膜半导体的兴趣不断增加,尤其 是因为这些支持体从机械性能上讲较坚固耐用,重量较轻,且可以更为 经济地制造,例如可使用辊至辊法制造。一种有用的柔性基板是聚对苯 二甲酸乙二醇酯。然而,这样的塑料限制器件的加工温度低于200℃。
尽管柔性基板具有潜在的优点,但在传统制造中使用传统的照相平 版印刷术时,塑料支持体仍存在许多问题,使之难以在从典型基板宽度 到一米或以上范围内对晶体管组件进行校正。传统的照相平版印刷方法 和设备严重受到基板的最大加工温度、耐溶剂性、尺寸稳定性、水、和 溶剂溶胀,以及那些所有塑料支持体通常不如玻璃的关键参数的影响,
人们有意利用成本较低的方法来进行沉积,这些方法不会产生与真 空加工和用照相平版印刷术构图相关的花费。在典型的真空加工中,为 了提供必要的环境,需要一个大的金属室和复杂的真空泵系统。在典型 的照相平版印刷系统中,在真空室中沉积的大部分材料会被除去。沉积 品和照相平版印刷品的成本费用高,并且无法使用易用的基于连续网的 系统。
在过去的十年里,有多种材料因作为无定形硅的潜在的替代品用于 薄膜晶体管的半导体沟道而受到关注。希望得到易于加工的半导体材 料,特别是那些能够通过相对简单的工艺就可施加至大面积上的半导体 材料。如果半导体材料可以在较低温度下沉积,则可使包括塑料在内的 较广范围的基板材料用于柔性电子器件。那些易于加工和易于构图的介 电材料对于实现低成本和制作柔性电子器件来说也是关键的。
发掘实用的无机半导体材料作为目前硅-基技术的替代也具有相当 大的研究前景。例如,已知金属氧化物半导体是由另外沉积有包括金属 如铝在内的掺杂元素的氧化锌、氧化铟、氧化镓铟锌、氧化锡、或氧化 镉构成。这类半导体材料为透明材料,对于特定应用而言有如下讨论的 额外优势。此外,金属氧化物电介质如氧化铝(Al2O3)和TiO2可在实 际电子应用中以及光学应用中如干涉过滤器中得到应用。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的