[发明专利]用于电压/电流探针测试装置的方法和设备有效
申请号: | 200880105513.1 | 申请日: | 2008-06-25 |
公开(公告)号: | CN101796624A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 加理·M·莱姆森 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/00;H01L21/3065;G01R31/26 |
代理公司: | 上海华晖信康知识产权代理事务所(普通合伙) 31244 | 代理人: | 樊英如 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 电压 电流 探针 测试 装置 方法 设备 | ||
1.一种用以执行电气测量以校准等离子处理室探针的诊断工具, 包括:
RF发生器;
第一阻抗电路,所述第一阻抗电路是电压-负载网络,配 置为当来自该RF发生器的RF功率输送至该第一阻抗电路时 输送来自该RF发生器的RF电压输出用于电压测量,其中该 RF电压输出在200伏特至6100伏特的范围内;
第二阻抗电路,所述第二阻抗电路是电流-负载网络,配 置为当来自该RF发生器的RF功率输送至该第二阻抗电路时 输送来自该RF发生器的RF电流输出用于电流测量,其中该 RF电流输出在2安培至50安培的范围内;以及
同轴交换网络装置,配置为提供可切换RF输送路径以将 来自该RF发生器的RF功率输送至该第一阻抗电路和该第二 阻抗电路之一。
2.根据权利要求1所述的诊断工具,进一步包括:
RF电压控制装置,所述RF电压控制装置配置为命令所 述RF发生器输出所述RF功率以匹配预定的软件定义的设定 值;
控制PCB探针信号引导装置,所述控制PCB探针信号引 导装置配置为允许引导电子信号通过所述第一阻抗电路和所 述第二阻抗电路之一以测量所述探针的电气值;以及
系统连锁,所述系统连锁包括控制PCB连锁继电器装置, 其配置为当满足至少预定条件之一时防止所述诊断工具传送 来自所述RF发生器的所述RF功率。
3.根据权利要求1所述的诊断工具,其中所述RF发生器是50 欧姆发生器。
4.根据权利要求1所述的诊断工具,其中调谐所述电压-负载网 络以匹配所述RF发生器的阻抗。
5.根据权利要求1所述的诊断工具,其中调谐所述电流-负载网 络以匹配所述RF发生器的阻抗。
6.根据权利要求1所述的诊断工具,其中调谐所述电流-负载网 络以在13.56MHz谐振。
7.根据权利要求1所述的诊断工具,其中所述同轴交换网络装置 包括衰减器。
8.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述RF电压控制装置 包括数据采集板。
9.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述RF电压控制装置 是闭环RF电压控制装置。
10.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述控制PCB探针信 号引导装置包括多个单刀双掷继电器。
11.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述控制PCB探针信 号引导装置包括多个双刀双掷继电器。
12.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述控制PCB连锁继 电器装置包括连锁继电器。
13.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述控制PCB连锁继 电器装置包括电压箝位电路和达灵顿电路。
14.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述系统连锁包括电压- 负载连锁开关和电流-负载连锁开关。
15.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述系统连锁包括多个 泄漏检测开关。
16.根据权利要求2所述的诊断工具,其中所述系统连锁包括流动 开关和水阀门。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造