[发明专利]载体箔片有效
| 申请号: | 200880103811.7 | 申请日: | 2008-06-04 |
| 公开(公告)号: | CN101803474A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
| 发明(设计)人: | 迈克尔·施利普夫;卡佳·维德曼 | 申请(专利权)人: | 爱尔铃克铃尔股份公司 |
| 主分类号: | H05K1/03 | 分类号: | H05K1/03;C08L27/18;B29C47/88 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 车文;樊卫民 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 载体 | ||
1.用于柔性电路板的、具有多个箔片层的载体箔片,所述载体箔 片由如下聚合物材料制得,所述聚合物材料包括能热塑加工的TFE共 聚物,所述TFE共聚物具有共聚单体份额约2摩尔%或更少,其中, 以冷却辊来制备所述箔片的层,以及其中,所述载体箔片的一个层或 多个层是以铜镀覆的。
2.根据权利要求1所述的载体箔片,其特征在于,共聚单体份额 为约1摩尔%或更少。
3.根据权利要求2所述的载体箔片,其特征在于,共聚单体份额 为约0.5摩尔%或更少。
4.根据权利要求1至3之一所述的载体箔片,其特征在于,所述 共聚单体选自六氟丙烯、全氟烷基乙烯基醚、全氟-(2,2-二甲基-1,3- 二氧杂环戊烯)和/或三氟氯乙烯。
5.根据权利要求4所述的载体箔片,其特征在于,所述共聚单体 是全氟烷基乙烯基醚。
6.根据权利要求5所述的载体箔片,其特征在于,所述全氟烷基 乙烯基醚是全氟正丙基乙烯基醚。
7.根据权利要求1至3之一所述的载体箔片,其特征在于,借助 电沉积产生所述铜镀覆物。
8.根据权利要求1至3之一所述的载体箔片,其特征在于,所述 铜镀覆物的厚度为约20微米或更少。
9.根据权利要求8所述的载体箔片,其特征在于,所述铜镀覆物 的厚度为约12微米或更少。
10.根据权利要求9所述的载体箔片,其特征在于,所述铜镀覆 物的厚度为约6微米或更少。
11.根据权利要求9所述的载体箔片,其特征在于,所述铜镀覆 物的厚度为3微米或更少。
12.根据权利要求1所述的载体箔片,其特征在于,所述聚合物 材料在单个层中的无定形份额为约50重量%或更多。
13.根据权利要求1或12所述的载体箔片,其特征在于,所述载 体箔片的层在第一表面上的算术平均粗糙度为约1微米或更少,并且 在冷却辊侧的对置表面上的算术平均粗糙度为约0.8微米或更少。
14.根据权利要求13所述的载体箔片,其特征在于,所述载体箔 片的层在第一表面上的算术平均粗糙度为约0.6微米或更少,并且在冷 却辊侧的对置表面上的算术平均粗糙度为约0.5微米或更少。
15.根据权利要求14所述的载体箔片,其特征在于,所述载体箔 片的层在第一表面上的算术平均粗糙度为约0.3微米或更少,并且在冷 却辊侧的对置表面上的算术平均粗糙度为约0.25微米或更少。
16.根据权利要求14所述的载体箔片,其特征在于,所述对置表 面的算术平均粗糙度为约0.2微米或更少。
17.用于制备根据权利要求1至16之一所述的载体箔片的方法, 所述方法包括:
以冷却辊方法制备所述箔片的层,其中,以如下方式调整所述冷 却辊的温度,即,实现无定形份额为约50重量%或更多,其中,对所 述层的至少一个设有铜镀覆物。
18.根据权利要求17所述的方法,其特征在于,将所述铜镀覆物 电沉积在层上。
19.根据权利要求18所述的方法,其特征在于,在电沉积所述铜 镀覆物之前,对待镀覆的表面进行活化。
20.根据权利要求19所述的方法,其特征在于,对所述表面的活 化包括对表面进行粗糙化。
21.根据权利要求20所述的方法,其特征在于,对表面的粗糙化 包括借助离子束技术或离子径迹技术、和/或等离子体束和/或电子束和 /或激光束来处理所述表面。
22.根据权利要求17至21之一所述的方法,其特征在于,为了 进行铜镀覆,首先通过真空涂覆直接在包含纳米复合物的、纳米结构 化的过渡层上形成铜起始层,并且通过化学工艺或电化学工艺以在所 述铜起始层之上形成的方式来施加铜层的主体部分。
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