[发明专利]用于大尺寸零件的自动检查的系统和方法有效

专利信息
申请号: 200880020300.9 申请日: 2008-06-13
公开(公告)号: CN101681158A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: B·J·马什;K·D·范斯考特;L·S·博德兹奥尼;G·E·乔治松 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: G05B19/401 分类号: G05B19/401
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 赵蓉民
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 尺寸 零件 自动 检查 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种自动检查工件的方法,所述方法包括:

提供安装在框架上的多个无损检查传感器,所述框架被安装在传送设备上;

在工件的多个预定位置设置多个基准点,所述预定位置在配置为接收所述多个基准点的所述工件上;

使用所述多个基准点中的一个或更多个,通过跟踪系统测定所述工件的第一预定位置的方位;

移动所述传送设备从而将所述多个无损检查传感器定位在靠近工件的所述第一预定位置;

通过所述多个无损检查传感器无损检查靠近所述第一预定位置的工件的第一部分,所述无损检查传感器包括用于执行对层压复合材料脱落或剥离的机械敲击测试的共振声谱传感器即RAM传感器;

将来自所述多个无损检查传感器的数据提供给计算系统;

由所述计算系统通过比较所述数据与工件的预定阈值标准而分析所述数据;以及

当相关位置的分析数据在所述工件的所述预定阈值标准之外时,在所述计算系统的控制下引导标记设备,从而在所述相关位置标记所述工件以指示修理动作。

2.根据权利要求1所述的方法,其中移动所述传送设备包括通过所述跟踪系统测定所述框架的方位。

3.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:

通过所述跟踪系统测定工件的第二预定位置的方位;

移动所述传送设备从而将所述多个无损检查传感器定位在靠近工件的所述第二预定位置;以及

通过所述多个无损检查传感器无损检查靠近所述第二预定位置的工件的第二部分。

4.根据权利要求1所述的方法,其中移动所述传送设备包括通过所述跟踪系统测定所述传送设备的方位。

5.根据权利要求1所述的方法,进一步包括在所述框架和所述传送设备上设置多个第二基准点。

6.根据权利要求1所述的方法,进一步包括在所述工件外部中的孔,从而接收一个或更多个所述位置处的所述多个基准点中的一个或更多个。

7.一种自动检查工件系统,该系统包括:

在工件的多个预定位置设置的多个基准点;

跟踪系统,其使用所述多个基准点中的一个或更多个测定所述工件上的相关位置的方位;

传送设备;

安装在所述传送设备上的框架,所述框架具有容纳被检查工件的外部形状的形状;

安装在所述框架上的多个无损检查传感器,所述无损检查传感器包括用于执行对层压复合材料脱落或剥离的机械敲击测试的共振声谱传感器即RAM传感器;以及

与所述跟踪系统和所述多个无损检查传感器操作地连接的计算系统。

8.根据权利要求7所述的自动检查工件系统,进一步包括设置在所述框架和所述传送设备上的多个基准点。

9.根据权利要求7所述的自动检查工件系统,其中所述计算系统包括第一计算机处理部件,所述第一计算机处理部件被配置以控制所述传送设备的运动。

10.根据权利要求9所述的自动检查工件系统,其中所述计算系统包括第二计算机处理部件,所述第二计算机处理部件被配置以分析来自所述多个无损检查传感器的数据。

11.根据权利要求10所述的自动检查工件系统,其中所述第二计算机处理部件被进一步配置为比较所述数据与所述工件的预定阈值标准。

12.根据权利要求7所述的自动检查工件系统,其中所述跟踪系统包括选自数字摄影测量系统、光学三角测量系统以及超声波系统的跟踪系统。

13.根据权利要求7所述的自动检查工件系统,其中所述多个无损检查传感器包括用于第一类型的无损检查的至少一个第一传感器以及用于第二类型的无损检查的至少一个第二传感器,所述第二类型的无损检查与所述第一类型的无损检查是不同的。

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