[发明专利]晶片支承玻璃有效
申请号: | 200880019324.2 | 申请日: | 2008-05-27 |
公开(公告)号: | CN101681868A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 西井由和 | 申请(专利权)人: | 豪雅冠得股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 蒋 亭;苗 堃 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 支承 玻璃 | ||
1.一种晶片支承玻璃,其通过粘合在半导体晶片上来支承该半导体 晶片,其特征在于,为了将所述晶片支承玻璃从所述半导体晶片剥离,所 述晶片支承玻璃以最大弯曲角度计弯曲30度以上,所述晶片支承玻璃的 板厚为0.3mm~1.1mm,所述晶片支承玻璃具有通过化学强化处理形成的 压缩应力层,所述压缩应力层的深度为15μm以上且220μm以内。
2.如权利要求1所述的晶片支承玻璃,其特征在于,所述晶片支承玻 璃含有Na2O或Li2O。
3.如权利要求1所述的晶片支承玻璃,其特征在于,所述晶片支承玻 璃具有通过涂布处理形成的涂层。
4.如权利要求1所述的晶片支承玻璃,其特征在于,所述晶片支承玻 璃具有第1面、第2面及边缘部,所述边缘部形成有倒棱部或连接所述第 1面和第2面的曲面。
5.如权利要求4所述的晶片支承玻璃,其特征在于,所述晶片支承玻 璃的边缘部的算术平均粗糙度为440nm以下。
6.如权利要求1所述的晶片支承玻璃,其特征在于,所述半导体晶片 为具有规定直径的圆形,所述晶片支承玻璃为直径比所述规定直径大的圆 形。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造