[发明专利]功率半导体模块有效

专利信息
申请号: 200880011912.1 申请日: 2008-04-17
公开(公告)号: CN101657899A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 八木雄二;山田靖;中川郁朗;渥美贵司;白井干夫;大沼郁雄;石田清仁;高久佳和 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社;国立大学法人东北大学
主分类号: H01L25/07 分类号: H01L25/07;H01L23/36;H01L25/18
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 蒋 亭;苗 堃
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 功率 半导体 模块
【权利要求书】:

1.一种功率半导体模块,具有在表面具有Cu层的功率半导体元件、 以及在SiNx陶瓷板的两面具有Cu层的Cu/SiNx/Cu层叠体的绝缘部,

将所述功率半导体元件和所述绝缘部以彼此的Cu层相对的方式进 行配置,并在2个Cu层之间用Bi系焊接材料接合而成,

所述Cu/SiNx/Cu层叠体中Cu的纯度为99.96%以上,

所述Cu/SiNx/Cu层叠体的热膨胀系数与所述功率半导体元件的热 膨胀系数的差为1.6ppm/℃以下。

2.一种功率半导体模块,具有功率半导体元件、在SiNx陶瓷板的 两面具有Cu层的Cu/SiNx/Cu层叠体的绝缘部、以及在表面具有Cu层 的散热板,将所述绝缘部和所述散热板以彼此的Cu层相对的方式进行 配置,并在2个Cu层之间用Bi系焊接材料接合而成,

所述Cu/SiNx/Cu层叠体中Cu的纯度为99.96%以上,

所述Cu/SiNx/Cu层叠体的热膨胀系数与所述功率半导体元件的热 膨胀系数的差为1.6ppm/℃以下。

3.根据权利要求1或2所述的功率半导体模块,所述Cu/SiNx/Cu 层叠体的热膨胀系数通过调整所述SiNx陶瓷板和所述Cu层的厚度来 调整。

4.根据权利要求1或2所述的功率半导体模块,所述Bi系焊接材 料是(1)Bi单质、(2)在Bi中分散有CuAlMn合金粒子的Bi-CuAlMn、 (3)在Bi中添加了Cu的材料、或(4)在Bi中添加了Ni的材料。

5.根据权利要求3中所述的功率半导体模块,所述Bi系焊接材料 是(1)Bi单质、(2)在Bi中分散有CuAlMn合金粒子的Bi-CuAlMn、 (3)在Bi中添加了Cu的材料、或(4)在Bi中添加了Ni的材料。

6.根据权利要求4所述的功率半导体模块,所述在Bi中添加了 Ni的材料的Ni含有率为0.01质量%~7质量%。

7.根据权利要求5所述的功率半导体模块,所述在Bi中添加了 Ni的材料的Ni含有率为0.01质量%~7质量%。

8.根据权利要求4所述的功率半导体模块,所述在Bi中添加了 Cu的材料的Cu含有率为0.01质量%~5质量%。

9.根据权利要求5所述的功率半导体模块,所述在Bi中添加了 Cu的材料的Cu含有率为0.01质量%~5质量%。

10.根据权利要求4所述的功率半导体模块,所述Bi-CuAlMn的 CuAlMn合金粒子含有率为0.5质量%~20质量%。

11.根据权利要求5所述的功率半导体模块,所述Bi-CuAlMn的 CuAlMn合金粒子含有率为0.5质量%~20质量%。

12.根据权利要求2所述的功率半导体模块,具有在表面具有Ni 层的所述功率半导体元件、以及在表面具有Ni层的所述绝缘部,将所 述功率半导体元件和所述绝缘部以彼此的Ni层相对的方式进行配置, 并在该2个Ni层之间用Zn(1-x-y)AlxMy所表示的合金接合而成,其中, x是0.02~0.10,y是0~0.02,M表示除锌和铝以外的金属。

13.根据权利要求1、2、5~12中任一项所述的功率半导体模块, 所述功率半导体元件用GaN或SiC形成。

14.根据权利要求3所述的功率半导体模块,所述功率半导体元件 用GaN或SiC形成。

15.根据权利要求4所述的功率半导体模块,所述功率半导体元件 用GaN或SiC形成。

16.根据权利要求2、5~12、14~15中任一项所述的功率半导体模 块,所述散热板是在Mo层的两面具有Cu层的Cu层/Mo层/Cu层的层 叠体。

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