[发明专利]半导体存储装置

权利要求书

1.一种半导体存储装置，其包括：

非易失性半导体存储器，其按块来存储数据，所述块为数据擦除的单 位；以及

控制单元，其监控存储在选自所述块的受监控块中的数据的错误计 数，并且刷新在其中所述错误计数等于或大于阈值的受监控块中的数据，

其中所述控制单元包括：

错误校正单元，其校正从所述块读出的数据中的错误；

错误计数检测单元，其检测由所述错误校正单元校正的数据中的所述 错误计数；

监控单元，其将所述错误计数等于或大于第一阈值的块设定为所述受 监控块，并且以预定间隔读出所述受监控块中的数据；以及

刷新单元，其对所述错误计数等于或大于第二阈值的所述受监控块执 行刷新操作，所述第二阈值大于所述第一阈值。

2.根据权利要求1的半导体存储装置，其还包括：

第一管理表，与所述受监控块对应的块号被登记到所述第一管理表， 其中

所述监控单元通过参考所述第一管理表检测所述错误计数来监控在 所述受监控块中的数据的所述错误计数。

3.根据权利要求2的半导体存储装置，其中所述监控单元从所述第一 管理表删除与对其执行所述刷新操作的所述受监控块对应的块号。

4.一种半导体存储装置，其包括：

非易失性半导体存储器，其按块来存储数据，所述块为数据擦除的单 位；以及

控制单元，其监控存储在选自所述块的受监控块中的数据的错误计 数，并且刷新在其中所述错误计数等于或大于阈值的受监控块中的数据，

其中所述控制单元包括：

错误校正单元，其校正从所述块读出的数据中的错误；

错误计数检测单元，其检测由所述错误校正单元校正的数据中的所述 错误计数；

读出量检测单元，其检测从所述块读出的数据的量；

监控单元，其将所述量等于或大于第三阈值的块设定为所述受监控 块，并且以预定间隔读出所述受监控块中的数据；以及

刷新单元，其对所述错误计数等于或大于所述阈值的所述受监控块执 行刷新操作。

5.根据权利要求4的半导体存储装置，其还包括：

第一管理表，与所述受监控块对应的块号被登记到所述第一管理表， 其中

所述监控单元通过参考所述第一管理表检测所述错误计数来监控在 所述受监控块中的数据的所述错误计数。

6.根据权利要求5的半导体存储装置，其中所述监控单元从所述第一 管理表删除与对其执行所述刷新操作的所述受监控块对应的块号。

7.根据权利要求5的半导体存储装置，其还包括：

第二管理表，从所述块读出的数据的量被登记到所述第二管理表，其 中

所述监控单元参考所述第二管理表将所述块登记到所述第一管理表 作为所述受监控块。

8.一种半导体存储装置，其包括：

非易失性半导体存储器，其按块来存储数据，所述块为数据擦除的单 位；以及

控制单元，其监控存储在选自所述块的受监控块中的数据的错误计 数，并且刷新在其中所述错误计数等于或大于阈值的受监控块中的数据，

其中所述控制单元包括：

错误校正单元，其校正从所述块读出的数据中的错误；

错误计数检测单元，其检测由所述错误校正单元校正的数据中的所述 错误计数；

写入时间检测单元，其检测从将数据写入所述块中时起流逝的时间；

监控单元，其将所述流逝的时间等于或大于第四阈值的块设定为所述 受监控块，并且以预定间隔读出所述受监控块中的数据；以及

刷新单元，其对所述错误计数等于或大于所述阈值的所述受监控块执 行刷新操作。