[实用新型]用于集成电路测试的多路模/数数据并行采集装置有效
| 申请号: | 200820124266.7 | 申请日: | 2008-12-05 |
| 公开(公告)号: | CN201327526Y | 公开(公告)日: | 2009-10-14 |
| 发明(设计)人: | 李力军;张东;管泽武 | 申请(专利权)人: | 北京自动测试技术研究所 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 曦 |
| 地址: | 100088北*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 集成电路 测试 多路模 数据 并行 采集 装置 | ||
1.一种用于集成电路测试的多路模/数数据并行采集装置,包括系统总线控制器、定时器、地址发生器、多个存储器和多个模/数转换器,其特征在于:
所述系统总线控制器通过系统控制总线分别连接定时器和地址发生器,所述地址发生器通过地址线分别连接各个存储器的地址端口,各个模/数转换器通过系统控制总线连接对应的存储器,各个存储器分别通过系统控制总线和系统数据总线接入所述系统总线控制器;
所述定时器通过系统数据总线分别连接所述地址发生器和各个模/数转换器,各个模/数转换器分别通过系统数据总线与对应的存储器实现连接。
2.如权利要求1所述的多路模/数数据并行采集装置,其特征在于:
所述多路模/数数据并行采集装置还具有读/写控制器,所述系统总线控制器通过系统控制总线连接所述读/写控制器,所述读/写控制器分别与各个存储器进行连接。
3.如权利要求1或2所述的多路模/数数据并行采集装置,其特征在于:
所述存储器为随机存取存储器。
4.如权利要求1所述的多路模/数数据并行采集装置,其特征在于:
所述系统总线控制器与集成电路测试系统中的计算机相连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京自动测试技术研究所,未经北京自动测试技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200820124266.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种金属工件热处理变形控制方法
- 下一篇:一种瓷器清洗剂的制备方法





