[发明专利]内方位元素及畸变测试仪无效

专利信息
申请号: 200810231794.7 申请日: 2008-10-17
公开(公告)号: CN101726316A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 张周锋;赵建科;周艳 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C11/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 商宇科
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 方位 元素 畸变 测试仪
【说明书】:

技术领域

发明涉及航空、航天摄影测量领域,尤其涉及一种应用在数字航摄像机上的内方位元素及畸变测试仪。

背景技术

摄影测量在地形图编制的应用领域中得到了很快发展,逐步形成了摄影测量技术系统,同时也形成了一个复杂的摄影测量仪器系统。摄影测量时借助量测摄影机远距离取地球表面或其它地物的像片,再在摄影测量仪器上量测像片上地物的空间分布。它是测绘地形图及其它专用用图的重要手段,是遥感技术的重要组成部分。

目前摄影相机一般分为两种:

一是传统胶片型航摄相机。成像器件选用感光胶片来记录影像。首先在感光胶片上形成了一幅潜在的图像,经过显影和定影便可形成一幅与实物完全相反的底片,即负片;最后再经过翻拍、显影和定影便得到一幅与实物完全相符的图像,即正片。

二是数字式航摄相机。随着电荷耦合器成像器件(CCD、CMOS)的发展,近年来国际上先后研制成功数字空间摄影测量相机和数字航空摄影测量相机。与传统的胶片航摄相机比较,数字式航摄相机不同的是将传统相机中的成像器件——胶片,改变为电荷耦合器成像器件如CCD或CMOS。同时数字式航空摄影相机有着一系列不可比拟的优点:(1)免去了胶片的显影、定影处理过程,直接获得数字图像,简化了事后处理的程序,节约了成本;(2)除了能获得地面目标的几何位置数据外,还能获得其多光谱图像;(3)减少了胶片冲洗扫描带来的误差,获得的数字地图的精度更高。因此,数字航摄相机将是航空摄影测量的发展方向,将成为航空摄影测量的主力装备。

作为航空摄影测量的关键装备,数字航摄像机也需要作定期的标定,尤其是内方位元素及畸变差的标校。不管是传统胶片型航摄相机还是数字式航摄相机需要进行实验室标定的具体项目为:1、内方位元素——主距fk,像主点坐标(x0、y0);2、畸变差。于是,为了与数字航摄相机的推广使用相配套,必须研究相应的标定方法,建立标定装置。

对于传统胶片型航摄相机,检测内方位元素和畸变差采用目标图案板测量畸变。测试装置如图1所示,其测试方法为:为了确定像主点坐标位置(x0、y0),在测试过程中需对相机分两次测量,分别为水平方向与垂直方向测试,而垂直方向测试实际上是通过将相机旋转90°后,在水平方向进行测试。

现在以水平方向为例介绍具体测试方法:将网格板安装于航摄相机的框标平面上,并调整网格板使其与各个框标重合,用光源照亮网格板;将航摄相机物方朝向测量望远镜安装于转台上,并调整相机使其入瞳位于转台回转中心。一边转动转台,一边用测量望远镜观察标准网格板经相机所成的像,并用转台记录每个像高对应的角度。在水平方向测试完毕后,将相机旋转90°重新调整,重复上面步骤,在水平方向继续进行观测。根据水平、俯仰方向测试数据及相应的数据处理公式,计算被测相机内方位元素、像主点坐标及畸变差。

因为数字式航摄相机用CCD或CMOS探测器取代了传统的感光胶片,所以以往胶片型航摄相机成熟的检定方法和检定项目将不再适用。而现阶段我国数字式航空摄影相机的使用刚刚起步,数字式航空摄影相机的标定方法还是空白,本仪器就是解决数字式航空摄影相机的标定问题。

发明内容

本发明为了解决背景技术中存在的上述技术问题,而提供了一种结构简单、操作方便、精确度高的内方位元素及畸变测试仪。

本发明的技术解决方案是:本发明提供了一种内方位元素及畸变测试仪,包括光源以及转台,其特殊之处在于:所述内方位元素及畸变测试仪还包括平行光管;所述平行光管位于光源和转台之间,并和光源置于同一光轴之上。

上述转台是二维转台。

上述二维转台是高精度数显二维转台。

上述高精度数显二维转台是采用27位轴角编码器且分辨率可以达到0.01″的高精度数显二维转台。

上述光源是点光源、激光光源或面光源。

本发明的优点是:

1、结构简单。本发明只需要一个平行光管、转台及光源就可以实现对相机的标定,大大简化了原有内方位元素及畸变测试仪结构。

2、操作方便。本发明采用高精度数显二维转台,此转台可以通过计算机进行控制,实现精确定位,定位精度优于2″。本测试仪可在一次固定调整好被测数字相机之后,同时测出不同方位、俯仰角下的畸变数据,方便了操作人员,省时省力,大大提供了测量效率。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810231794.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top