[发明专利]内方位元素及畸变测试仪无效

专利信息
申请号: 200810231794.7 申请日: 2008-10-17
公开(公告)号: CN101726316A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 张周锋;赵建科;周艳 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C11/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 商宇科
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 方位 元素 畸变 测试仪
【权利要求书】:

1.一种内方位元素及畸变测试仪,包括光源以及转台,其特征在于:所述内方位元素及畸变测试仪还包括平行光管;所述平行光管位于光源和转台之间,并和光源置于同一光轴之上。

2.根据权利要求1所述的内方位元素及畸变测试仪,其特征在于:所述转台是二维转台。

3.根据权利要求2所述的内方位元素及畸变测试仪,其特征在于:所述二维转台是高精度数显二维转台。

4.根据权利要求3所述的内方位元素及畸变测试仪,其特征在于:所述高精度数显二维转台是采用27位轴角编码器且分辨率可以达到0.01″的高精度数显二维转台。

5.根据权利要求1或2或3或4所述的内方位元素及畸变测试仪,其特征在于:所述光源是点光源、激光光源或面光源。

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