[发明专利]内方位元素及畸变测试仪无效
| 申请号: | 200810231794.7 | 申请日: | 2008-10-17 |
| 公开(公告)号: | CN101726316A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
| 发明(设计)人: | 张周锋;赵建科;周艳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01C11/02 |
| 代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 商宇科 |
| 地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 方位 元素 畸变 测试仪 | ||
1.一种内方位元素及畸变测试仪,包括光源以及转台,其特征在于:所述内方位元素及畸变测试仪还包括平行光管;所述平行光管位于光源和转台之间,并和光源置于同一光轴之上。
2.根据权利要求1所述的内方位元素及畸变测试仪,其特征在于:所述转台是二维转台。
3.根据权利要求2所述的内方位元素及畸变测试仪,其特征在于:所述二维转台是高精度数显二维转台。
4.根据权利要求3所述的内方位元素及畸变测试仪,其特征在于:所述高精度数显二维转台是采用27位轴角编码器且分辨率可以达到0.01″的高精度数显二维转台。
5.根据权利要求1或2或3或4所述的内方位元素及畸变测试仪,其特征在于:所述光源是点光源、激光光源或面光源。
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