[发明专利]一种超高分辨率的磁力显微镜探针的制备方法无效

专利信息
申请号: 200810228929.4 申请日: 2008-11-21
公开(公告)号: CN101403100A 公开(公告)日: 2009-04-08
发明(设计)人: 秦高梧;裴文利;任玉平 申请(专利权)人: 东北大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/02;C23C14/58;C23C14/54;G12B21/10
代理公司: 沈阳东大专利代理有限公司 代理人: 梁 焱
地址: 110004辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 超高 分辨率 磁力 显微镜 探针 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种超高分辨率的磁力显微镜探针的制备方法,其特征在于包括以下步骤:(1)将无涂层Si探针用频率为20000Hz以上的超声波清洗,时间不少于5min;(2)将经过超声波清洗的无涂层Si探针固定在磁控溅射设备的样品腔中,将磁控溅射设备的样品腔抽真空,达到真空度在5×10-5Pa以下,然后在磁控溅射设备的样品腔中通入惰性气体,使样品腔中的气体压力为0.1~1Pa;(3)通过磁控溅射设备将Fe和Pt共溅射到无涂层Si探针表面,获得FePt合金涂层Si探针,溅射时Fe原子占溅射Fe原子和Pt原子总量的45~55%,溅射时间为1~30分钟,溅射功率为5~30瓦;(4)将获得的FePt合金涂层Si探针在惰性气氛下加热到500~800℃进行热处理,使FePt合金涂层转化为L10-FePt合金涂层,热处理时间为5~15min,获得超高分辨率的磁力显微镜探针;所述的超高分辨率的磁力显微镜探针尖锐度为20~40nm,其中尖锐度是指探针最先端的弧度半径;所述的超高分辨率的磁力显微镜探针的FePt合金涂层厚度为5~15nm。

2.根据权利要求1所述的一种超高分辨率的磁力显微镜探针的制备方法,其特征在于所述的超高分辨率的磁力显微镜探针的饱和磁化强度为500~800EMU/cc,矫顽力为6000~10000Oe。

3.根据权利要求1所述的一种超高分辨率的磁力显微镜探针的制备方法,其特征在于所述的超高分辨率的磁力显微镜探针的横向分辨率为5~15nm。

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