[发明专利]具有可移动热挡板的半导体片红外快速热处理腔无效
| 申请号: | 200810227378.X | 申请日: | 2008-11-28 |
| 公开(公告)号: | CN101409228A | 公开(公告)日: | 2009-04-15 |
| 发明(设计)人: | 钱佩信;林惠旺;刘志弘;刘朋;刘荣华 | 申请(专利权)人: | 中电华清微电子工程中心有限公司;清华大学 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00 |
| 代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所 | 代理人: | 廖元秋 |
| 地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 移动 挡板 半导体 红外 快速 热处理 | ||
技术领域
本发明属于极大规模集成电路和半导体制造的工艺设备技术领域,特别涉及半导体片红外快速热处理腔的结构设计。
背景技术
为了满足超大规模集成电路超浅结、硅化物形成、薄氧生长和快速热氮化等工艺技术的要求,本申请发明人发明了采用射频感应加热扁平矩形石墨腔作为红外快速辐射热源,使红外快速热处理设备的热处理石英腔的温度均匀性满足8"(Φ200mm)以下半导体片的要求(实用新型专利:红外快速热处理设备的热处理石英腔,专利号:2L 93241758.2)。其结构如图1所示:矩形石英腔1外围绕着射频线圈2,石英腔一端有一通氮气N2的进气管3,另一端是与中间开有扁平孔的腔盖4相连,涂有介质膜的红外反射板5用石英框架7固定在矩形石英腔1内,由内外表面包封一层碳化硅膜的扁平矩形石墨腔6固定在红外反射板5内,半导体片9放在石英片架8上被机械手送入石墨腔6内加热。该专利由于采用整个扁平矩形石墨腔6从上下左右四周加热其间的半导体片,再加上在周围还设置了红外反射板5,使温度场非常均匀,从而保证了快速热处理8"(Φ200mm)以下半导体片的温度均匀性,满足了超大规模集成电路工艺技术的特殊要求。
近年来随着极大规模集成电路的迅速发展,半导体片尺寸已发展到12"(Φ300mm)甚至更大,线条已下降到60nm或者45nm、32nm甚至更小,因而对红外快速热处理设备提出了更高要求:首先必须保证Φ300mm半导体片加热均匀。其次必须满足60纳米节点以下线宽的极大规模集成电路极快速度升降温退火的尖峰退火技术要求。而在上述已有加热腔中退火半导体片,无法实现极快速度的升温和极快速度的降温。因为在将半导体片送进加热腔时,如果升温速度太快,会由于加热器的热惰性,大大超过预设的加热温度,控温系统无法精确控制其温度;而在将半导体片拉出加热腔时,半导体片会继续受到石墨加热腔的热辐射,无法迅速降温。因此,上述结构红外快速热处理腔已不能满足要求。
发明内容
本发明的目的是在于针对已有技术存在的问题,提出一种具有可移动热挡板的半导体片红外快速热处理腔,采用具有可快速移动的热挡板结构,当半导体片在石墨加热腔中以极快速度加热到预定的高温时,可移动热挡板可快速插入半导体片与石墨加热腔之间的缝隙,将退火后的半导体片与石墨腔热辐射源完全隔离,从而使高温半导体片迅速降温,实现真正的尖峰退火。
本发明提出的具有可移动热挡板半导体片红外快速热处理腔,其特征在于,该热处理腔包括:由石英内腔及套在该内腔外的石英外腔构成的扁平矩形双层石英腔,固定在所述石英内、外腔之间的扁平矩形红外加热腔和红外反射板,在该石英内、外腔的端面各设有通气口;石英内腔的前端伸入石英外腔中,该石英内、外腔的前端面设置有密封腔盖,在该腔盖内腔中间设置有能进出半导体片的密封阀门,还包括装卸半导体片的机械手及机械手驱动机构;在所述的机械手上固定有石英片托;在所述双层石英腔外还设置有可移动热挡装置,该可移动热挡装置的热挡板能沿该双层石英腔轴线方向从双层石英腔后端伸入到石英内腔外壁与扁平矩形红外加热腔内壁之间的缝隙内。
本发明的技术特点及效果:
本发明的具有可移动热挡板半导体片红外快速热处理腔,采用可快速移动热挡装置。当半导体片在石墨加热腔中以极快速度加热到预定的高温时,其中的可移动挡板快速插入半导体片与石墨加热腔之间的缝隙。该可移动热挡板不仅将退火后的半导体片与石墨腔热辐射源完全隔离,而且同时吸收高温半导体片辐射的能量,从而使高温半导体片迅速降温,实现真正的尖峰退火。该热处理腔,半导体片加热温度范围宽,半导体片加热升温速率和降温速率快,半导体片尺寸任意大小,生产率高。
附图说明
图1为已有技术的热处理石英腔示意图。
图2为本发明的具有可移动热挡板半导体片红外快速热处理腔示意图
具体实施方式
本发明提出的可移动热挡板半导体片红外快速热处理腔结合附图及实施例进一步说明如下:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中电华清微电子工程中心有限公司;清华大学,未经中电华清微电子工程中心有限公司;清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810227378.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种具界面粗化的发光二极管及其制作方法
- 下一篇:管状电加热元件的绝缘介质
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





