[发明专利]一种图像细线检测的方法及装置有效

专利信息
申请号: 200810225210.5 申请日: 2008-10-27
公开(公告)号: CN101727669A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 袁梦尤;王宗宇;六尾敏明;李平立 申请(专利权)人: 北京大学;方正国际软件(北京)有限公司;京瓷美达株式会社
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 图像 细线 检测 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种图像细线检测的方法及装置。

背景技术

现有技术中图像细线检测方法是采用图像内的局部边界信息,识别图像中 的细线,即通过多个样本图像形成模板,保存上述模板,并将上述模板和与其 相似的测试模板进行匹配进行细线检测。

采用上述模板匹配检测图像细线的方法,一般只用于检测灰度图像,采用 模板匹配的方法成本较高,并且计算量大,不利于硬件电路的成本控制。

现有边界检测算子检测图像细线的方法,一部分边界检测算子对于细线的 检测强度较低,另一部分边界检测算子虽然对细线有较高的检测强度,但同时 对图像噪声的响应强度也偏高,从而不能有效地进行图像内细线的检测。

发明内容

本发明实施例提供一种图像细线检测的方法及装置,用以增强图像中细线 检测的强度,减小检测的计算量,降低检测的成本。

本发明实施例提供的一种图像细线检测的方法,包括:

在待检测区域上设置偶数尺寸边界方向检测窗口,根据所述边界方向检测 窗口内像素点的像素值与边界检测模板,计算所述边界方向检测窗口内中心点 的边界方向,其中,所述中心点为像素点顶角;并且,

在待检测区域上设置奇数尺寸边界强度检测窗口,在所述边界强度检测窗 口内计算每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,根据每个向量计算每个 掩蔽模板的合向量,根据每个合向量与该掩蔽模板的相似非中心像素点数量参 数,计算边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度;

根据所述像素点的细线边界强度和顶角边界方向,检测所述待检测区域是 否为细线区域。

本发明实施例提供的一种图像细线检测的装置,包括:

边界方向检测模块,用于在待检测区域上设置偶数尺寸边界方向检测窗 口,根据所述边界方向检测窗口内像素点的像素值与边界检测模板,计算所述 边界方向检测窗口内中心点边界方向,其中,所述中心点为像素点顶角;

边界强度检测模块,用于在待检测区域上设置奇数尺寸边界强度检测窗 口,在所述边界强度检测窗口内计算每个非中心像素点相对于中心像素点的向 量,根据每个向量计算每个掩蔽模板的合向量,根据每个合向量与该掩蔽模板 的相似非中心像素点数量参数,计算边界强度检测窗口内中心像素点的细线边 界强度;

细线检测模块,用于根据所述像素点的细线边界强度和顶角边界方向,检 测待检测区域是否为细线区域。

本发明实施例在进行图像细线检测中,根据细线区域像素点的特点,检测 像素点的四个顶角的边界方向是否为两两相对或两两相背,以及像素点的边界 强度是否大于设定的边界强度的阈值进行图像细线检测,因此,采用本发明实 施例提供的图像细线检测的方法,可以增强图像细线检测的强度,有效地检测 出细线区域,同时,本发明实施例提供的计算方法简单,节省了检测成本,有 利于进行硬件电路的成本控制。

附图说明

图1为本发明实施例中图像细线检测的方法流程图;

图2为本发明实施例中像素点的四个顶角的位置示意图;

图3为本发明实施例中检测像素点顶角边界方向的方法流程图;

图4为本发明实施例中确定图像边界方向检测窗口中各像素点坐标示意 图;

图5为本发明实施例中像素点顶角边界方向为两两相对和两两相背的示意 图;

图6为本发明实施例中确定图像边界强度检测窗口中各像素点坐标示意 图;

图7为本发明实施例中四个掩蔽模板的示意图;

图8为本发明实施例中图像细线检测的装置示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种图像细线检测的方法,包括,在待检测区域上设 置偶数尺寸边界方向检测窗口,根据边界方向检测窗口内像素点的像素值与边 界检测模板,计算边界方向检测窗口内中心点即像素点顶角的边界方向;在待 检测区域上设置奇数尺寸边界强度检测窗口,在边界强度检测窗口内计算每个 非中心像素点相对于中心像素点的向量,根据每个向量计算对应每个掩蔽模板 的合向量,根据每个合向量与该掩蔽模板的相似非中心像素点数量参数,计算 边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度;根据像素点的细线边界强度 和顶角边界方向检测待检测区域是否为细线区域。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学;方正国际软件(北京)有限公司;京瓷美达株式会社,未经北京大学;方正国际软件(北京)有限公司;京瓷美达株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810225210.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top