[发明专利]一种图像细线检测的方法及装置有效
| 申请号: | 200810225210.5 | 申请日: | 2008-10-27 |
| 公开(公告)号: | CN101727669A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
| 发明(设计)人: | 袁梦尤;王宗宇;六尾敏明;李平立 | 申请(专利权)人: | 北京大学;方正国际软件(北京)有限公司;京瓷美达株式会社 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
| 地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 图像 细线 检测 方法 装置 | ||
1.一种图像细线检测的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
在待检测区域上设置偶数尺寸边界方向检测窗口,计算所述边界方向检测 窗口内像素点的像素值与边界检测模板的卷积,得到所述边界方向检测窗口内 中心点的水平方向的边界强度分量Ex和垂直方向的边界强度分量Ey,计算所述 边界方向检测窗口内中心点的边界方向α为:其中,所述中心点 为像素点顶角;并且,
在待检测区域上设置奇数尺寸边界强度检测窗口,在所述边界强度检测窗 口内计算每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,根据每个向量计算每个 掩蔽模板的合向量,根据每个合向量与该掩蔽模板的相似非中心像素点数量参 数,计算边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度,其中,所述相似非 中心像素点数量参数,根据掩蔽模板的非零位置对应的边界强度检测窗口内的 非中心像素点的像素值与中心像素点的像素值的相似程度确定,相似程度越高, 所述相似非中心像素点数量参数越大;
当所述像素点的四个顶角边界方向为两两相对或两两相背,且所述像素点 的细线边界强度大于设定的边界强度的阈值,则所述像素点为细线区域内的像 素点;
当待检测区域内每个像素点的四个顶角边界方向为两两相对或两两相背, 且每个像素点的细线边界强度大于设定的边界强度的阈值,则所述待检测区域 为细线区域。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述偶数尺寸边界方向检测窗 口的设置包括:
取偶数M,设置M×M的像素窗口为边界方向检测窗口。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述边界强度检测窗口内计 算每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,包括:
确定每个像素点的坐标值,根据所述每个像素点的坐标值和所述每个像素 点的像素值,计算所述每个非中心像素点相对于中心像素点的向量,
其中,每个向量的方向为所述中心像素点指向对应的非中心像素点的方向, 所述每个向量的模为所述对应的非中心像素点的像素值。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据每个向量计算每个掩 蔽模板的合向量包括:
计算每个掩蔽模板中非零位置对应的边界强度检测窗口内的各个非中心像 素点相对中心像素点的向量的和,得到每个掩蔽模板的合向量。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,计算边界强度检测窗口内中心 像素点的细线边界强度,包括:
根据掩蔽模板的非零位置对应的边界强度检测窗口内的非中心像素点的像 素值与中心像素点的像素值的相似程度,确定每个掩蔽模板对应的相似非中心 像素点数量参数;
采用每个相似非中心像素点数量参数缩放对应该掩蔽模板的合向量的模, 选取调整后的所述合向量模的最大值为所述边界强度检测窗口内中心像素点的 细线边界强度。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述奇数尺寸边界强度检测窗 口的设置包括:
取大于1的奇数N,设置N×N的像素窗口为边界强度检测窗口。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学;方正国际软件(北京)有限公司;京瓷美达株式会社,未经北京大学;方正国际软件(北京)有限公司;京瓷美达株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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