[发明专利]一种确定辐射安全裕度考查频点的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种根据被试品自身辐射发射与背景环境电平，通过比较与插值来确定辐射安全裕度考查频点的方法，适用于电磁兼容辐射安全裕度测试。

背景技术

根据GJB1389A-2005《系统电磁兼容性要求》规定，安全裕度是指敏感度门限与环境中的实际干扰信号电平之间的相对数值之差，用dB表示。应根据系统工作性能的要求、系统硬件的不一致性以及验证系统设计要求时的不确定因素，确定安全裕度。安全裕度测试是系统级电磁兼容测试中的一个重要组成部分。

安全裕度测试包括辐射安全裕度和传导安全裕度。

辐射安全裕度测试一般分两个步骤：第一步，测试设备正常工作状态下，按照测试距离要求使用接收天线测量被试品自身辐射发射(参见图1所示)；第二步，通过辐射天线对被试品施加辐射场强干扰(参见图2所示)，要求在同一位置同一频点测得的辐射电场强度比被试品自身辐射发射强度高出规定的安全裕度值，此时被试品未出现敏感现象，则说明被试品在该频点满足规定的安全裕度要求，否则称被试品在该频点不满足规定的安全裕度要求。

在辐射安全裕度测试中，考查频点的选择是一个关键问题。现有的相关测试标准没有对测试频点做严格的规定，这给电磁兼容安全裕度测试的实施带来了一定的困难，如果按照辐射发射测试中的标准规定的频率步进测试，测试结果正确，但是由于频点非常多导致整个测试时间的加长，这一方面使得测试效率低下，也对功放等测试设备提出了要求；如果任意选择若干频点测试，可能会漏测许多关键频点，而且如果在没有测试到的频点正好不满足安全裕度的指标，测试的正确性和完整性就难以保证。如何合理选取测试频点，提高测试效率成为安全裕度测试的一个难点。

发明内容

本发明的目的是提出一种根据被试品自身辐射发射与背景环境电平，通过比较与插值来确定辐射安全裕度考查频点的方法。

本发明的确定辐射安全裕度考查频点的方法，其辐射安全裕度考查频点获取的步骤如下：

步骤101：被试品处于未工作状态下，获取背景环境电平N_辐射(f，u_0-E)；

对于辐射安全裕度，使用接收天线测量被试品所在测试区域的背景环境电平N_辐射(f，u_0-E)，测试频点数为n；f表示测试频率，单位为Hz；u_0-E表示背景环境电平电场强度，单位为dBμV/m；

步骤102：被试品处于工作状态下，获取被试品自身辐射发射E_辐射(f，u_1-E)；

对于辐射安全裕度，按照测试距离要求使用接收天线测量被试品自身辐射发射E_辐射(f，u_1-E)，测试频率和测试频点数与步骤101相同；u_1-E表示在辐射安全裕度测试中的被试品自身辐射发射强度，单位为dBμV/m；

步骤103：获取差值Δ_E

依据步骤102中获得的u_1-E与步骤101中获得的u_0-E进行差值比较，得到辐射安全裕度测试中差值Δ_E；该Δ_E是被试品自身辐射发射强度高出背景环境电平的值；

步骤104：筛选考查频点f₁

根据设定的阈值α、以及步骤103中的Δ_E采用峰值检波方式进行筛选考查频点f₁；该f₁是从f中筛选的Δ_E高于α对应的峰值频点；f₁中的频率点数为m，且m≤n；

步骤105：计算插值频点f₂

利用步骤101中的n、步骤104中的m、缩比率β、步骤101中的测试频率f计算插值频点f₂；其中计算步骤为：

步骤151：计算步骤101中的n和步骤104中的m的比值r＝n/m，并取比值r的整数部分[r]；

步骤152：比较获得r的整数部分[r]与缩比率β之间的相对较小值min([r]，β)；

步骤153：依据min([r]，β)对f进行间隔选取得到插值频点f₂，频点间隔数为min([r]，β)；

步骤106：对步骤104中的f₁与步骤105中的f₂进行并集处理，得到初选频点f₃；