[发明专利]一种确定辐射安全裕度考查频点的方法

权利要求书

1.一种确定辐射安全裕度考查频点的方法，其特征在于辐射安全裕度考查频点获取的步骤如下：

步骤101：被试品处于未工作状态下，获取背景环境电平N_辐射(f，u_0-E)；

对于辐射安全裕度，使用接收天线测量被试品所在测试区域的背景环境电平N_辐射(f，u_0-E)，测试频点数为n；f表示测试频率，单位为Hz；u_0-E表示背景环境电平电场强度，单位为dBμV/m；

步骤102：被试品处于工作状态下，获取被试品自身辐射发射E_辐射(f，u_1-E)；

对于辐射安全裕度，按照测试距离要求使用接收天线测量被试品自身辐射发射E_辐射(f，u_1-E)，测试频率和测试频点数与步骤101相同；u_1-E表示在辐射安全裕度测试中的被试品自身辐射发射强度，单位为dBμV/m；

步骤103：获取差值Δ_E

依据步骤102中获得的u_1-E与步骤101中获得的u_0-E进行差值比较，得到辐射安全裕度测试中差值Δ_E；该Δ_E是被试品自身辐射发射强度高出背景环境电平的值；

步骤104：筛选考查频点f₁

根据设定的阈值α、以及步骤103中的Δ_E采用峰值检波方式进行筛选考查频点f₁；该f₁是从f中筛选的Δ_E高于α对应的峰值频点；f₁中的频率点数为m，且m≤n；

步骤105：计算插值频点f₂

利用步骤101中的n、步骤104中的m、缩比率β、步骤101中的测试频率f计算插值频点f₂；其中计算步骤为：

步骤151：计算步骤101中的n和步骤104中的m的比值r＝n/m，并取比值r的整数部分[r]；

步骤152：比较获得r的整数部分[r]与缩比率β之间的相对较小值min([r]，β)；

步骤153：依据min([r]，β)对f进行间隔选取得到插值频点f₂，频点间隔数为min([r]，β)；

步骤106：对步骤104中的f₁与步骤105中的f₂进行并集处理，得到初选频点f₃；

步骤107：相邻频点筛选

依据频率步进最小值γ对步骤106中的f₃进行相邻频点筛选，得到辐射安全裕度考查频点f₄。

2.根据权利要求1所述的确定辐射安全裕度考查频点的方法，其特征在于：测试频点数为n为大于1的自然数。

3.根据权利要求1所述的确定辐射安全裕度考查频点的方法，其特征在于：阈值α的取值决定了考查频点f₁的个数，α越大，f₁的频点个数越少。

4.根据权利要求1所述的确定辐射安全裕度考查频点的方法，其特征在于：缩比率β的取值决定了插值频点f₂的个数，β越大，f₂的频点个数越少。

5.根据权利要求1所述的确定辐射安全裕度考查频点的方法，其特征在于：频率步进最小值γ的取值决定了辐射安全裕度考查频点f₄的个数，γ越大，f₄的频点个数越少。