[发明专利]光照射方法、光照射装置以及微粒分析装置

权利要求书

1.一种使用定向光来照射流道中的样本的光照射方法，所述方法 包括以下步骤：

当使用所述定向光在所述流道的宽度方向上执行扫描 时，使用所述定向光照射所述样本，所述定向光具有小于所述 流道的宽度的照射点，

其中，在满足以下表达式(1)的条件下执行使用所述定 向光的扫描：

D2v1>D1v2---(1)]]>

其中，v₁是所述样本在所述流道内部的移动速度，v₂是所 述定向光的扫描速度，D₁是所述流道的宽度，以及D₂是所述 照射点的直径。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，至少使用检流计反射镜、 电光元件、多面反射镜以及MEMS元件中的任何一种来执行 使用所述定向光的扫描。

3.一种使用定向光照射流道中的样本的光照射装置，所述装置至 少包括：

光源，用于使用具有小于所述流道的宽度的照射点的光 来执行照射；以及

扫描装置，用于使用所述光在所述流道的宽度方向上执 行扫描，

其中，在满足以下表达式(1)的条件下执行所述扫描：

D2v1>D1v2---(1)]]>

其中，v₁是所述样本在所述流道内部的移动速度，v₂是所 述定向光的扫描速度，D₁是所述流道的宽度，以及D₂是所述 照射点的直径。

4.一种微粒分析设备，包括：

根据权利要求3所述的光照射装置。