[发明专利]芯片计量装置与方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种芯片(即晶片，以下均称为芯片)计量装置与方法，特别是涉及一种具有引脚(pin)的管装芯片计量装置与方法。

背景技术

集成电路芯片(IC)在经过封装后，需进行一连串的测试，一般来说，为了方便会将集成电路芯片(IC)装入一些载晶容器中，例如装芯片的管子(tube)、托盘(tray)、或是卷带(tape)，以利于在各个测试机台与各测试步骤间的搬运。然而，在为了确定芯片的数量，因此，通常在上机台测试之前，或是测试完毕重新装入载晶容器之后，会以人工目视的方式点量载晶容器中芯片的数目。

然而，随着集成电路芯片(IC)尺寸的缩小，载晶容器所能装载的集成电路芯片数量越来越多，因此，增加了以人工目视的方式点量芯片的困难度，进行点量的人员，往往因为集成电路芯片(IC)太小不易以目视计算，或是受到外来的干扰，而造成点量错误，进而导致帐料不符。一般来说，对于装满集成电路芯片的载晶容器，可以藉由载晶容器的固定容量，以及以人工目视其是否确实装满的方式，而得知该载晶容器内的集成电路芯片数量，但是对于未装满载晶容器内集成电路芯片的点量，例如尾管的集成电路芯片的点量，确实因集成电路芯片(IC)尺寸过小与数量过多，而增加了以人工目视的方式点量的困难度，导致点量速率过慢、点量不精确、以及花费大量时间等问题，因此，亟需一种芯片计量装置与方法，可以快速且精确地点量出载晶容器内集成电路芯片的数量。

由此可见，上述现有的芯片计量方法在产品结构、制造方法与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的芯片计量装置与方法，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

有鉴于上述现有的芯片计量方法存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新的芯片计量装置与方法，能够改进一般现有的芯片计量方法，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容

有鉴于前述现有的芯片计量装置与方法存在的缺陷，本发明的目的在于，提供一种芯片计量装置取代人工点量，而降低点量的困难度与时间，提高点量速率与精确度。

本发明的另一目的在于，提供一种点量治具可以适用于不同的芯片计量，操作容易并降低点量的困难度与时间，提高点量速率与精确度。

本发明的另一目的在于，提供一种点量方法取代人工目视的芯片计量方式，操作容易并降低点量的困难度与时间，提高点量速率与精确度，并且对芯片的引脚进行检查，以确保芯片的引脚无严重弯曲或毁损。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种芯片计量装置，其包含：一主体，用以供芯片通过而进行计量，该主体具有一第一侧面与相对于该第一侧面的第二侧面；以及一点量治具，与该主体连结而可以在该主体上进行横向的移动，该点量治具具有一个或多个光发射器与一个或多个光接收器，其中每一该光发射器皆对应一光接收器，并且每一该光发射器发射光线到对应的该光接收器上。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的芯片计量装置，其中所述的主体包含一个或多个芯片入口设置于该第一侧面，以及一个或多个芯片出口设置于该第二侧面。

前述的芯片计量装置，其中所述的每一该芯片入口皆对应一芯片出口，并且该芯片入口与该芯片出口连通而成为一可供芯片通过的计量通道，其中每一该计量通道上方包含一个或多个第一开孔，而每一该计量通道下方包含一个或多个第二开孔，并且每一该第一开孔皆对应一第二开孔。

前述的芯片计量装置，其中所述的点量治具包含一通道设置于其中，用以将该点量治具套在该主体上进行横向移动，该通道贯通该点量治具中相对应的两侧而分别在该两侧各形成一通道口。

前述的芯片计量装置，其中所述的光发射器间距离与该等光接收器间距离可依芯片的尺寸进行调整。

前述的芯片计量装置，其中所述的每一该计量通道的一侧设置一个或是多个固定装置，而该点量治具更包含一个或多个定位装置，其中，每一定位装置皆对应一固定装置，该点量治具藉由该定位装置与对应的固定装置的结合，而固定在一计量通道旁而进行芯片计量与芯片引脚的检测。