[发明专利]芯片计量装置与方法

权利要求书

1、一种芯片计量装置，其特征在于其包含：

一主体，用以供芯片通过而进行计量，该主体具有一第一侧面与相对于该第一侧面的第二侧面；以及

一点量治具，与该主体连结而可以在该主体上进行横向的移动，该点量治具具有一个或多个光发射器与一个或多个光接收器，其中每一该光发射器皆对应一光接收器，并且每一该光发射器发射光线到对应的该光接收器上。

2、根据权利要求1所述的芯片计量装置，其特征在于其中所述的主体包含一个或多个芯片入口设置于该第一侧面，以及一个或多个芯片出口设置于该第二侧面。

3、根据权利要求2所述的芯片计量装置，其特征在于其中所述的每一该芯片入口皆对应一芯片出口，并且该芯片入口与该芯片出口连通而成为一可供芯片通过的计量通道，其中每一该计量通道上方包含一个或多个第一开孔，而每一该计量通道下方包含一个或多个第二开孔，并且每一该第一开孔皆对应一第二开孔。

4、根据权利要求1所述的芯片计量装置，其特征在于其中所述的点量治具包含一通道设置于其中，用以将该点量治具套在该主体上进行横向移动，该通道贯通该点量治具中相对应的两侧而分别在该两侧各形成一通道口。

5、根据权利要求1所述的芯片计量装置，其特征在于其中所述的光发射器间距离与该等光接收器间距离可依芯片的尺寸进行调整。

6、根据权利要求3所述的芯片计量装置，其特征在于其中所述的每一该计量通道的一侧设置一个或是多个固定装置，而该点量治具更包含一个或多个定位装置，其中，每一定位装置皆对应一固定装置，该点量治具藉由该定位装置与对应的固定装置的结合，而固定在一计量通道旁而进行芯片计量与芯片引脚的检测。

7、一种点量治具，其特征在于其包含：

一基座；

一个或多个光发射器，用以做为一直线光源而发射直线光线；以及

一个或多个光接收器，用以接收该一个或多个光发射器所发射的直线光线，其中每一该光发射器皆对应一光接收器。

8、根据权利要求7所述的点量治具，其特征在于其更包含一光发射平台与一光接收平台，其中该一个或多个光发射器设置于该光发射平台，而该一个或多个光接收器设置于该光接收平台。

9、一种芯片计量的方法，其特征在于其包括以下步骤：

发射一直线光线至一光接收器；

输入多个芯片；

移动该多个芯片而使该多个芯片以同一侧的引脚通过该直线光线；

当该多个芯片的引脚通过该直线光线时，遮断该直线光线使该光接收器无法接收到该直线光线而发出信号；

处理该光接收器所发出的信号而进行计量；以及

输出该多个芯片。

10、根据权利要求9所述的芯片计量的方法，其特征在于其中所述的输入多个芯片步骤是以管装方式输入芯片，即将一装有芯片的管子插入一芯片计量装置。

11、根据权利要求9所述的芯片计量的方法，其特征在于其中所述的遮断该直线光线使该光接收器无法接收到该直线光线时，该光接收器为打开(ON)的状态会发出信号或电位号，而在接到光线时则为关闭(OFF)的状态。

12、根据权利要求10所述的芯片计量的方法，其特征在于其中所述的移动该多个芯片的步骤是转动装有芯片的管子向上转动一角度，使芯片因重力而落下或滑下。

13、根据权利要求9所述的芯片计量的方法，其特征在于其更包含输入该多个芯片的一侧的引脚数目的步骤。

14、根据权利要求13所述的芯片计量方法，其特征在于其中所述的处理该光接收器所发出的信号的步骤更包含该光接收器发出的信号的的信号总数除以所输入该多个芯片的一侧的引脚数目，而得到该多个芯片总数。

15、根据权利要求9所述的芯片计量的方法，其特征在于其更包含发射另一直线光线至另一光接收器，当该多个芯片另一侧的引脚通过该直线光线时，遮断该直线光线使该光接收器无法接收到该直线光线而发出信号。

16、根据权利要求15所述的芯片计量的方法，其特征在于其中所述的处理该光接收器所发出的信号的步骤更包含比对两侧光接收器发出的信号的信号总数是否相同，若相同则芯片两侧引脚无严重弯曲或毁损，若不相同则芯片两侧引脚有严重弯曲或毁损，则发出警告信号。