[发明专利]引线框、半导体器件以及引线框的制造方法无效

专利信息
申请号: 200810210494.0 申请日: 2008-08-14
公开(公告)号: CN101369570A 公开(公告)日: 2009-02-18
发明(设计)人: 小贺彰 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L21/48
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 刘多益
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 引线 半导体器件 以及 制造 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及引线框、使用该引线框的半导体器件以及引线框的制造方法。

背景技术

近年来,作为采用引线框的半导体器件的形态之一,广泛采用四边扁平组件(以下称QFP)。图13表示现有普通QFP型半导体器件的截面。

如图13所示,在QFP型半导体器件中,形成有集成电路的半导体芯片6利用粘接剂7固接于芯片焊盘14的上表面侧。而且,形成于该半导体芯片6的表面的多个电极(未图示)通过多根导线8与放射状配置于芯片焊盘14周围的多根引线2连接。利用封固树脂体18将半导体芯片6、芯片焊盘14、导线8以及引线2与导线8的连接部分一并树脂塑封。另外,在封固树脂体18的外部,各引线2弯曲成形成鸥翼型。

另一方面,为了满足电子设备的多功能化、小型化、高密度化,要求半导体器件等的半导体零部件高密度化、高性能化、系统化,QFP型半导体器件正向多针脚化、引线的窄间距化、高散热化发展(例如参照香山晋、成瀬邦彦主编,《实践讲座VLSI封装技术(下)》,株式会社日经BP,1993年5月31日发行,P165~P170)。

通常,高耗电的半导体器件为了使工作时的产热有效地释放,具有如下结构:使具有散热板功能的芯片焊盘从封固树脂体露出,或另行设有散热板,或使该散热板从封固树脂体露出(例如参照日本专利特开平6-291236号公报)。图14表示现有的内置散热板的QFR型半导体器件的截面。

如图14所示,在该QFP形半导体器件中,形成有集成电路的半导体芯片6利用粘接剂7固接于散热板5的上表面侧。而且,形成于该半导体芯片6的表面的多个电极(未图示)通过多根导线8与放射状配置在安装于散热板5上的半导体芯片6的周围的多根引线2连接。散热板5夹着被冲压成指定框形的绝缘带3粘接于引线2的顶端侧的下表面。将半导体芯片6、散热板5、导线8以及引线2与导线8的连接部分一起用封固树脂体18树脂塑封。另外,在封固树脂体18的外部,各引线2弯曲成形呈鸥翼型。

如上所述,由于QFP型半导体器件向多针脚化、引线的窄间距化发展,引线框也向引线宽度窄小化以及引线窄间距化发展,引线的变形成为问题。

因此,为了减少引线的变形,作为引线框的制造方法,一般有如下所述的方法。即,在该制造方法中,首先,通过对金属板进行蚀刻或加压加工,形成邻接引线的顶端之间相互连接的状态的图案。经过镀敷工序和贴带工序(粘贴引线固定用绝缘带的工序)后,通过加压加工将各引线的顶端切断(例如参照日本专利特开平1—133340号公报)。

图15~图18是用于说明现有的内置散热板的QFP型半导体器件的制造工序的主要部分的俯视图和工序截面图,图19~图21是用于说明现有的内置散热板的QFP型半导体器件的制造工序的工序截面图。

首先,如图15所示,用蚀刻法或加压法对金属板进行加工,将框架(未图示)和与框架连接并向框架的中央部突出的多根引线2一体形成。此时,将邻接引线2的顶端之间加工成相互连接的状态。在此加工工序之前或之后,对各引线2的顶端部(切断加工后成为顶端部的部分)或整个金属板或金属板的形成引线框的部分实施镀敷处理。

然后,如图16所示,在引线2的顶端侧(切断加工后成为顶端侧的部分)的下表面粘贴被冲压成指定框形的绝缘带3。

然后,如图17所示,通过采用剪切模4的加压加工,将从绝缘带3的内框露出的各引线2的连接顶端切断,将各引线2分离。此时,由于引线2被绝缘带3固定,因此各引线2不会散乱地变形。

然后,如图18所示,将被冲压成所需形状的散热板5粘贴于绝缘带3的下表面,配置在框架内。

经上述图15~图18所示的工序,完成引线框1。

然后,如图19所示,利用粘接材料7将表面具有多个电极(未图示)的半导体芯片6固接于散热板5的上表面侧。

然后,如图20所示,通过多根导线8将形成于半导体芯片6的表面的多个电极(未图示)与多根引线2连接。

然后,如图21所示,用封固模9a、9b夹住引线框1,使装于壶10的封固树脂熔融,用柱塞11按压该熔融的封固树脂,通过流道12和浇口13注入金属模内,使注入该金属模内的封固树脂固化,形成封固树脂体。

虽未图示,但之后将从封固树脂体突出的各引线的一部分切断,弯曲成形,完成QFP型半导体器件。

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