[发明专利]测试元件、测试元件组、液晶面板及间隙子高度检测方法

权利要求书

1.一种测试元件组，包含测试元件，所述测试元件包括：

间隙子，形成于液晶面板的第一基板上且具有自由端，所述第一基 板具有第一电极，所述液晶面板具有与所述第一基板相对的第二基板， 所述自由端处于填充于所述第一基板和第二基板间间隙的液晶中；以 及，

凹槽，形成于所述第二基板面向所述第一基板的侧面上且与所述间 隙子相对，所述第二基板具有第二电极，所述凹槽与所述间隙子之间夹 有液晶；

其中，所述测试元件组包含至少两个所述间隙子与所述凹槽之间夹 有的液晶的高度不同的所述测试元件。

2.根据权利要求1所述的测试元件组，其特征在于：所述第一电极 形成于所述第一基板面向所述第二基板的侧面上，所述间隙子形成于所 述第一电极上。

3.根据权利要求2所述的测试元件组，其特征在于：所述第一电极 为公共电极层。

4.根据权利要求1或2或3所述的测试元件组，其特征在于：所述 第二电极形成于所述第二基板面向所述第一基板的侧面上，所述凹槽形 成于所述第二电极上。

5.根据权利要求4所述的测试元件组，其特征在于：所述第二电极 为扫描电极层、源/漏极金属层或像素电极层中的一种。

6.根据权利要求1所述的测试元件组，其特征在于，至少两个所述 测试元件的所述第二电极不同，所述第二电极为扫描电极层、源/漏极 金属层或像素电极层。

7.根据权利要求1所述的测试元件组，其特征在于，所述测试元件 组还包含至少一个辅助测试元件，所述辅助测试元件包括：间隙子，形 成于液晶面板的第一基板上且具有自由端，所述第一基板具有第一电 极，所述液晶面板具有与所述第一基板相对的第二基板，所述间隙子处 于填充于所述第一基板和所述第二基板间间隙的液晶中，所述第二基板 具有第二电极，所述自由端与所述第二基板相接。

8.根据权利要求7所述的测试元件组，其特征在于，所述辅助测试 元件还包括：形成于所述第二基板上且与所述间隙子相对的凹槽。

9.根据权利要求8所述的测试元件组，其特征在于：所述第二电极 形成于所述第二基板面向所述第一基板的侧面上，所述凹槽形成于所述 第二电极上。

10.根据权利要求9所述的测试元件组，其特征在于：所述第二电 极为扫描电极层、源/漏极金属层或像素电极层中的一种。

11.根据权利要求7所述的测试元件组，其特征在于：所述第一电 极形成于面向所述第一基板的侧面上，所述辅助测试元件的间隙子形成 于所述第一电极上。

12.一种液晶面板，具有至少一个显示单元，其特征在于，还包括 至少两个如权利要求1-11中任一项所述的分立的测试元件组，各所述 测试元件组位于各所述显示单元之外。

13.一种间隙子高度检测方法，其特征在于，包括：

形成如权利要求1-11中任一项所述的测试元件组；

选取并驱动所述测试元件组中的任意两个测试元件；

获得各所述测试元件中所述第一电极和第二电极间的电容的测试 值C’；

对各所述测试元件列出所述第一电极和第二电极间间隙高度的表 达式，所述间隙高度的表达式中包含间隙子的高度和所述间隙子与凹槽 间夹有的液晶的高度；

列出包含所述间隙高度的表达式的电容表达式；

结合各所述测试值C’与所述电容表达式，获得至少两个以所述间 隙子的高度和其与凹槽间夹有的液晶的高度为变量的方程；

联立各所述方程，求解间隙子的高度。

14.根据权利要求13所述的间隙子高度检测方法，其特征在于，所 述电容表达式为：C0=C1+C2=C3//C4+C2=ϵ1s1h1//ϵ2⊥s1h2+ϵ2⊥s2h1+h2;]]>

所述第一电极和第二电极间的电容C₀包括并联的第一电容C₁和第二 电容C₂，所述第一电容C₁为串联的第三电容C₃和第四电容C₄，所述第三 电容C₃以所述间隙子为介质，其介电常数为ε₁，高度为h₁；所述第四电 容C₄以所述间隙子和所述凹槽间夹有的液晶为介质，其介电常数为ε_2⊥， 高度为h₂；所述第一电容C₁的极板面积为所述间隙子的底面积S₁；所述 第二电容C₂以所述第一电极和第二电极间间隙中填充的液晶为介质，所 述间隙的高度为h₁+h₂；所述第二电容C₂的极板面积为所述凹槽与所述 间隙子的底面积的差值S₂。