[发明专利]一种单板及提高其可靠性的方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种单板及提高其可靠性的方法。

背景技术

目前，在大部分电子设备的单板上同时存在中央处理器单元(CPU，Central Process Unit)和现场可编程门阵列(FPGA，Field Programmable GateArray)，其中，FPGA作为从设备，CPU作为主设备。FPGA内部的部分寄存器用于存储CPU配置的参数，部分寄存器用于实现逻辑功能。电子设备的单板在实际网络运行环境中可能因为环境因素，如雷电、工作温度超限、市电电压波动等原因导致单板的时钟出现毛刺，或者导致器件的工作电压增大。在单板的时钟出现毛刺，或器件工作电压增大的情况下，FPGA内部的寄存器的参数将会出现错误，比如1变成0，或0变成1，参数发生错误将导致设备瘫痪，但是FPGA器件本身功能正常，这种现象称为FPGA软失效。

在现有的技术中，通过合理的逻辑可靠性设计方案，可以使FPGA的逻辑功能实现部分的寄存器的参数出现错误后自行恢复正常。

发明人在本发明创造过程中发现，对于由CPU配置的寄存器的参数发生错误无法检测，也没办法恢复错误。

发明内容

本发明实施例提供了一种单板及提高其可靠性的方法，可以检测由CPU配置的FPGA的寄存器的配置参数发生错误，并使之恢复正常，从而提高单板可靠性。

为实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

本发明实施例提供了一种提高单板可靠性的方法，包括：

保存单板上的现场可编程门阵列的寄存器的配置参数的副本；

读取所述寄存器的当前参数；

如果所述寄存器的当前参数和所述寄存器的配置参数的副本不一致，对所述寄存器重新配置参数。

本发明实施例还提供了一种单板，包括：

现场可编程门阵列，中央处理器；

所述现场可编程门阵列包括：

寄存器，用于接收所述中央处理器配置的参数；

存储模块，用于如果所述中央处理器对所述寄存器配置参数，保存一份所述寄存器的配置参数的副本；

检测判断模块，用于读取所述寄存器的当前参数，与所述存储模块所保存的所述寄存器的配置参数的副本进行对比，如果所述寄存器的当前参数与所述寄存器的配置参数副本不一致，判断所述寄存器需要重新配置参数；

通知模块，用于如果所述检测模块判断所述寄存器需要重新配置参数，通知所述中央处理器对所述寄存器重新配置参数；

所述中央处理器包括：

配置模块，用于为所述现场可编程门阵列的寄存器配置参数；

接收模块，用于如果收到所述现场可编程门阵列重新配置参数的通知，通知所述配置模块对所述现场可编程门阵列的寄存器配置参数。

本发明实施例还提供了另一种单板，包括：

现场可编程门阵列，存储模块，中央处理器；

所述现场可编程门阵列包括：

寄存器，用于接收所述中央处理器配置的参数；

所述存储模块，用于如果所述中央处理器对所述寄存器配置参数，存储一份所述寄存器的配置参数的副本；

所述中央处理器包括：

配置模块，用于为所述现场可编程门阵列的寄存器配置参数，并在所述存储模块中保存一份配置的参数的副本；

检测判断模块，用于获取所述现场可编程门阵列的寄存器的当前参数，与所述存储模块所存储的配置参数的副本进行比较，如果所述寄存器的当前参数与所述存储模块所存储的配置参数的副本不一致，判断所述寄存器需要重新设置参数；

重置模块，如果所述检测判断模块判断所述现场可编程门阵列的寄存器需要重新设置参数，通知所述配置模块对所述现场可编程门阵列的寄存器重新配置参数并保存一份所述配置的参数的副本到所述存储模块。

本发明实施例将CPU配置的FPGA寄存器的配置参数存储一份副本，用以检测由CPU配置的FPGA寄存器是否发生错误，若配置的寄存器发生错误，则重新配置该寄存器，从而提高单板可靠性。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的一种提高单板可靠性的方法流程图；

图2为本发明实施例二提供的一种提高单板可靠性的方法流程图；

图3为本发明实施例三提供的一种提高单板可靠性的方法流程图；

图4为本发明实施例四提供的一种单板的逻辑结构示意图；

图5为本发明实施例五提供的一种单板的逻辑结构示意图。

具体实施方式