[发明专利]阵列测试装置

说明书

相关申请参考

本申请要求于2008年8月4日提交的第10-2008-0076203号韩 国专利申请的优先权，其公开内容全部结合于此作为参考。

技术领域

下面的描述涉及阵列测试装置，该阵列测试装置检测设置于显 示面板的基板上的多个电极中的电缺陷。

背景技术

阵列测试装置是用于检测显示面板的基板上的电极中的缺陷 的装置。显示面板包括诸如液晶显示器(LCD)、等离子显示面板 (PDP)、以及有机发光二极管(OLED)的平板显示装置。阵列测 试装置可以测试设置于LCD面板的薄膜晶体管(TFT)基板上的电 极是否存在缺陷。一般的TFT LCD面板包括TFT基板、上面形成 有滤色片和共用电极并且面对TFT基板的彩色基板、注入于TFT 基板与彩色基板之间的液晶、以及背光单元。

图1是传统阵列测试装置的一部分的示意图。参照图1，该阵 列测试装置包括多个调制器10、多个检测单元20、光源30、以及 基板支撑单元40。

每个调制器10均比光源30小，并且移动预定距离。

每个检测单元20均设置于每个调制器10的上部，并且测量通 过调制器10的光的量。

光源30设置于基板的下部，并且朝向调制器10发射光。光源 30形成为沿调制器10的移动方向的单个单元。光源30发射光，使 得光通过基板而射出。光源30的宽度可以与基板的宽度相同或者 比基板的宽度大。

基板支撑单元40介于光源30与基板之间。基板支撑单元40 具有与光源30相似的尺寸，并且抵靠在待测试的基板上。基板支 撑单元40由透明材料制成，并且允许从光源30发出的光广泛地散 布于基板支撑单元40抵靠的整个基板上。

在通过具有上述结构的传统阵列测试装置测试基板的过程中， 如果当调制器10在基板的特定区域内移动时，调制器10停止移动 预定的时间段，那么光源30就向基板发射光以检测基板中是否存 在缺陷。

近来，随着电光形成技术的发展，更宽的基板被用于平板显示 装置。因此，为了测试如此宽的基板上的电极，需要包括于阵列测 试装置中的光源随基板尺寸的增加而按比例地增大。

通常，光源30包括灯和用于散射从灯发出的光的散射板，并 且如果散射板的尺寸比较小，那么设置灯的部分与未设置灯的其它 区域之间的亮度差就会增加，因此该亮度差不会显著影响面板缺陷 的检测，但是当散射板的尺寸变得更大时，设置灯的区域与未设置 灯的区域之间的亮度差就会增加。因此，光未均匀地提供给调制器 10，因而降低了面板缺陷检测的可靠性。

而且，光源30不仅向通过调制器10测试的区域发射光，而且 还向不通过调制器10测试的区域发射光。因此，在进行面板是否 存在缺陷的测试时，可能消耗不必要的电能。

发明内容

本发明公开了一种阵列测试装置，其具有用于通过向调制器发 射均匀光的光源而提高面板缺陷检测可靠性的结构。另外，还公开 了一种具有仅允许调制器发射光的结构的阵列测试装置。

根据另一方面，公开了一种阵列测试装置，包括：至少一个调 制器，其设置于待测试的基板的一侧，并且沿第一轴线移动；以及 至少一个光源，其具有的尺寸与调制器的尺寸相对应，设置成与调 制器一一对应并向相应的调制器发射光，并且当在基板上进行测试 时所述光源被移动到与调制器相同的位置。

本领域技术人员将通过下面的详细描述而明白其它特征，下面 的详细描述与附图结合起来，公开了本发明的示例性实施例。

附图说明

图1是传统阵列测试装置的一部分的示意图。

图2是根据示例性实施例的阵列测试装置的透视图。

图3是根据示例性实施例的阵列测试装置的截面图，该阵列测 试装置具有与调制器联合移动的光源。

具体实施方式

提供下面的详细描述用来帮助读者获得对此处描述的方法、装 置和/或系统的全面理解。因此，对本领域技术人员来说，可以对此 处描述的系统、装置和/或方法进行各种改变、修改、和等同变化。 另外，省略了对众所周知的功能和结构的描述，以便增加清楚性和 简洁性。

图2是根据示例性实施例的阵列测试装置100的透视图。参照 图2，该阵列测试装置100包括多个调制器110和多个光源120。