[发明专利]光电转换装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 200810179634.2 申请日: 2008-11-28
公开(公告)号: CN101447526A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 井坂史人;加藤翔;大力浩二 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 柯广华;李家麟
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光电 转换 装置 制造 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及使用单晶半导体或多晶半导体的光电转换装置及其 制造方法。

背景技术

随着产业的发展,世界的资源消费量日趋增加。然而,主要使用 的石油、煤、天然气等的资源排出大量的二氧化碳,这成为近年来地 球温暖化急剧进展的主要因素。因此,二氧化碳的排出量少,且对环 境影响小的太阳能发电不断得到普及。

太阳能发电中有一些利用太阳热,但是大多数应用利用半导体的 光电特性将光能转换为电能的光电转换装置(也称为太阳电池、光生 伏打装置)。

光电转换装置已经在市场出售,由于世界各国政府的太阳电池支 持政策的推动,其产量逐年增加。例如,2006年的太阳电池的全世界 产量为2521MW,以超过年率40%的趋势增加。得到全球性的普及的 是使用结晶半导体的光电转换装置,而使用单晶硅衬底或多晶硅衬底 的光电转换装置占产量的大部分。

对以硅为材料的结晶系光电转换装置而言,为了吸收太阳光有 10μm左右的厚度就足够了,但是作为产品制造的单晶硅片,直径为6 英寸(直径150mm)至直径12英寸(直径300mm)的膜厚度为600μm 至800μm,而尺寸为100mm平方至150mm平方的多晶硅片的膜厚为 200μm至350μm。换言之,单晶硅衬底和多晶硅衬底具有作为光电转 换装置所需要的厚度的几十倍以上的厚度,这很难说是有效地利用了 作为原料的衬底。极端地说,当将这种单晶硅衬底或多晶硅衬底用于 光电转换装置时,其大部分只用作为了维持光电转换装置的形状的结 构体。

随着光电转换装置的产量逐年增加,单晶硅和多晶硅的原料的硅 的供给不足和价格高涨成为产业界的难题。受到半导体不景气的影响 的供给过剩的多晶硅的供求平衡由于半导体(LSI)产业的恢复以及 太阳电池市场的急剧扩展,从2005年度左右一转陷入供给不足的状 态。虽然世界各个硅供给制造大公司已经进行硅生产能力的加强,但 是还是不能跟上需求的增加,供给不足的状况暂时将持续下去。

光电转换装置具有各种各样的结构。除了具有在单晶硅衬底或多 晶硅衬底上形成n型或p型的扩散层的典型的结构的光电转换装置以 外,还有组合异种单元元件的叠层型的光电转换装置,该异种单元元 件是由单晶半导体或多晶半导体构成的单元元件和由非晶半导体或 微晶半导体构成的单元元件组合的(例如,参照专利文件1)。然而, 如上述那样的光电转换装置也需要使用单晶半导体衬底或多晶半导 体衬底。

近年来,对包括在具有绝缘表面的衬底上形成有单晶硅薄膜的 SOI(Silicon On Insulator;绝缘体上硅)结构进行了积极的开发。SOI 衬底是昂贵的,但是若将支撑衬底以便宜的衬底如玻璃衬底等代替则 与使用块状单晶硅衬底相比可以实现低成本化。此外,还可以降低原 料的硅的消费量。例如,已知通过利用氢离子注入剥离法制造将单晶 硅层固定在玻璃衬底上的SOI衬底的方法(例如,参照专利文件2)。

专利文件1日本专利公报H6-044638号公报

专利文件2日本专利申请公开H11-097379号公报

与SIMOX衬底或利用抛光、研磨的贴合衬底相比,通过使用氢 离子注入剥离法可以在低温处理下形成均匀的单晶硅薄膜。此外,可 以反复利用将单晶硅薄膜剥离后的单晶硅衬底,而可以有效地利用资 源。

在使用SOI衬底制造光电转换装置的情况下,单晶硅薄膜的膜厚 需要具有一定的厚度,以便高效地吸收太阳光。而要顾及到光电转换 效率时,太阳电池至少需要厚800nm以上的单晶硅薄膜。当利用氢离 子注入剥离法时,根据离子注入装置的加速电压确定单晶硅衬底的离 子注入深度,而可以确定获得的单晶硅薄膜的膜厚。但是,离子注入 装置的加速电压有装置上的限制,因此可以对单晶硅衬底注入离子的 深度也有最高限度。此外,离子注入的深度越深,注入离子时所需要 的加速电压就越高,而使用现有的装置难以使加速电压为高而获得大 电流。从而,在需要高加速电压的情况下,为了获得预定的注入量而 需要很长时间,而节拍时间也会降低。。

发明内容

鉴于上述问题,本发明的目的在于提供有效地利用有限的资源, 并且具有优良的光电转换特性的光电转换装置和其制造方法。

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