[发明专利]堆叠电容的存储电极的制作方法有效

专利信息
申请号: 200810161731.9 申请日: 2008-09-22
公开(公告)号: CN101685801A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 管式凡;戎乐天 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L21/8242 分类号: H01L21/8242;H01L21/28;H01L21/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 堆叠 电容 存储 电极 制作方法
【权利要求书】:

1.一种堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于包含有:

提供一基底,其中设有一导电区块;

在该基底上形成一堆叠层,该堆叠层自该基底表面依序至少包括一第一介电层、一支撑层及一第二介电层;

在该堆叠层中形成一开孔,以至少暴露出部分的该导电区块;

在该开孔侧壁及底部形成一存储电极层,并去除该第二介电层以暴露出该支撑层表面;

共形地沉积一间隙壁层于该支撑层表面及该存储电极层表面;

进行一离子注入工艺,以将一掺杂剂注入部分该间隙壁层;

选择性的去除掉未被注入该掺杂剂的该间隙壁层,并以剩余的该间隙壁层作为一硬掩模层去除部分该支撑层,由此暴露出部分的该第一介电层;以及

完全去除掉该第一介电层以及该硬掩模层。

2.如权利要求1所述的堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于该堆叠层中包含一蚀刻停止层,形成于该第一介电层与该基底之间。

3.如权利要求2所述的堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于该蚀刻停止层为氮化硅层。

4.如权利要求1所述的堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于该支撑层为氮化硅层。

5.如权利要求1所述的堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于该存储电极层包含金属。

6.如权利要求1所述的堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于该存储电极层包含氮化钛。

7.如权利要求1所述的堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于该间隙壁层包含多晶硅。

8.如权利要求1所述的堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于该间隙壁层包含二氧化硅。

9.如权利要求1所述的堆叠电容的存储电极的制作方法,其特征在于该掺杂剂包含BF2或Ar。 

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