[发明专利]一种太阳电池芯片背电极的制备方法无效

专利信息
申请号: 200810158150.X 申请日: 2008-10-22
公开(公告)号: CN101488535A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: 黄生荣;吴志强;孙明;林科闯 申请(专利权)人: 厦门市三安光电科技有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 厦门原创专利事务所 代理人: 徐东峰
地址: 361009福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 太阳电池 芯片 电极 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及光电池电极,特别应用于聚光型光伏发电系统的一种太阳电池芯片背电极的制备方法。

背景技术

用于高倍聚光型光伏发电系统所用光电池一般为高效化合物半导体太阳电池,如III—V族单结、多结太阳电池。化合物半导体太阳电池一般采用气相外延技术或者液相外延技术在Ge、Si、GaAs或YP等衬底上依次外延太阳电池各层结构,然后利用外延好结构的太阳电池外延片制备成太阳电池芯片。如图1为一般化合物太阳电池芯片结构示意图,太阳电池芯片在表面和背面分别制备上了金属的表面电极1和背电极4(层状结构相连接方式),太阳电池芯片包括厚厚的衬底层3和电池层2,电池层可以是单结也可以是多结。对于很多用于太阳电池的直接带隙化合物来说,太阳光的吸收深度很浅,因此有效电池层的厚度相对衬底来说非常薄,进入太阳电池的太阳光基本上都被电池层所吸收,电池层把其中一部分转换成电能,另外一部分转换成热能使得太阳电池温度升高,光电转换效率严重下降,其严重程度足以使太阳电池片烧毁。太阳电池芯片上的背电极一面封装在热沉基板上,热量通过衬底导向背电极和热沉基板,因此衬底的导热性能很大程度影响太阳电池芯片的散热;因此就目前聚光型太阳电池而言,太阳电池的散热不佳引起光电转换效率低下的问题避亟待解决。

根据热传导的基本公式Q=K·A·ΔT/ΔL(其中Q代表热传导的热量、K为材料的热传导系数、A代表传热的面积(或两物体的接触面积)、ΔT代表两端的温度差、ΔL则是两端的距离)可知,制约衬底的导热性能除了本身的导热系数以外,衬底的厚度也是其中的重要因素。据此上述公式,热量传递的大小同热传导系数、热传热面积成正比,同距离成反比。热传导系数越高、传热面积越大,传输的距离越短,那么热传导的能量就越高,也就越容易带走热量(即散热越快),因此在芯片尺寸一定、衬底的热传导系数无法改变的情况下尽量缩短热传递的距离即可达到快速散热的目的;但如果单纯的减薄衬底厚度会使得太阳电池片过薄而在其他工艺过程中容易发生破片,使得产品良率大大降低;而衬底太厚却会增加太阳电池芯片的串联电阻,影响太阳电池芯片的填充因子,降低太阳电池芯片的光电转换效率。

发明内容

为解决上述聚光型光伏发电系统所用光电池的散热和光电转换效率问题,本发明旨在提出在不改变太阳芯片的厚度情况下,缩短其热传导通道并同时提高其光电转换效率的一种太阳电池芯片背电极的制备方法。

本发明解决上述问题所采用的技术方案为:一种太阳电池芯片背电极的制备方法,其特征在于:

①在太阳电池芯片的衬底背面蚀刻出若干个槽深为20μm~150μm的非连续性凹槽;

②在衬底背面通过金属蒸镀工艺蒸镀背电极金属,该金属在凹槽中的部分与在衬底背面的部分一体成型为背电极。

本发明的太阳电池芯片为单结或多结化合物太阳电池芯片,其衬底较厚,可制作较深的电极凹槽而不会破坏到芯片的P-N结;在衬底蚀刻凹槽之前,先在衬底表面通过光刻工艺形成图案;衬底凹槽图案,其形状、大小和排列方式是规则或不规则的;本发明的凹槽蚀刻工艺采用干法蚀刻或湿法蚀刻;本发明的背电极也可采用溅射或电镀背电极金属的工艺在衬底的背面形成。

与传统太阳电池芯片的电极制备相比本发明的有益效果是:

①本发明对于衬底的光刻的精度要求不高,衬底背面凹槽图案的形状、大小和排列方式都没有特别要求;

②本发明中凹槽蚀刻深度较深,为了缩短导热通道要求蚀刻深度至少几十微米,凹槽不是细长型的,只是在衬底一定位置蚀刻出的凹槽(坑洞),衬底强度基本没有改变使得在其他工艺过程中不容易发生破片;

③本发明主要针对的是用于聚光型光伏发电系统化合物太阳电池芯片,在聚光条件下导热通道更短,使得衬底的热量更快地被传导出去;

④其他类型太阳电池芯片电极制备工艺上刻的沟槽工艺,由于衬底沟槽深度只有几微米,实际上对于散热的影响非常小,起不到本发明达到的优良效果。

附图说明

图1为传统化合物太阳电池芯片结构示意图;

图2为利用本发明方法制备的的太阳电池芯片结构示意图;

图3为本发明方法工艺衬底上蚀刻的凹槽示意图;

图中:1.表面电极;2.电池层;3.衬底;4.背电极;5.凹槽;

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

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