[发明专利]半导体器件有效
| 申请号: | 200810144562.8 | 申请日: | 2005-11-16 |
| 公开(公告)号: | CN101355059A | 公开(公告)日: | 2009-01-28 |
| 发明(设计)人: | 中柴康隆 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 关兆辉;谢丽娜 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体器件 | ||
1.一种具有第一和第二器件区的半导体器件,包括:
半导体衬底,
在所述半导体衬底上形成的绝缘中间层,
由所述绝缘中间层中掩埋并贯穿所述绝缘中间层的多个柱状导电 栓塞构成并包围所述第一器件区的周边的环形保护环(106),
具有与所述半导体衬底的导电类型相同的导电类型的阱区,其中 所述阱区形成在所述第一器件区的所述半导体衬底中,第二扩散层 (115)形成在所述阱区中、并且具有与所述第一器件区中的所述半导 体衬底的导电类型相反的导电类型;
在保护环形成区中形成非导电部件,该非导电部件阻挡从所述第 一器件区通过所述保护环至所述第二器件区的路径中的导电;
在所述半导体衬底的表面附近,在保护环形成区中设置具有与所 述半导体衬底的导电类型相反的导电类型的第一扩散层(115);
所述保护环的下表面与所述第一扩散层的上表面接触;以及
在所述第一扩散层和所述半导体衬底之间的结平面构成所述非导 电部件,
其中所述第一扩散层(115)与所述第二扩散层(115)分离,
其中所述非导电部件在所述第一扩散层和所述阱区之间,以及
其中在包括所述非导电部件的区域中,所述多个柱状导电栓塞在 平面中布置为对角的网格。
2.根据权利要求1的半导体器件,其中所述非导电部件形成在所 述第一或所述第二器件区的附近。
3.根据权利要求1的半导体器件,其中所述保护环还包围所述第 二器件区的周边。
4.根据权利要求1的半导体器件,其中所述多个柱状导电栓塞彼 此相邻。
5.根据权利要求1的半导体器件,其中所述非导电部件具有直接 在所述多个柱状导电栓塞下面的整个区上延伸的平面形状。
6.根据权利要求1的半导体器件,其中所述保护环沿所述半导体 衬底的边缘形成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于恩益禧电子股份有限公司,未经恩益禧电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810144562.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种温控器中的热敏致动结构
- 下一篇:成像装置及其方法





