[发明专利]薄膜形成方法和薄膜太阳能电池的制造方法有效
申请号: | 200810126721.1 | 申请日: | 2008-06-20 |
公开(公告)号: | CN101609796A | 公开(公告)日: | 2009-12-23 |
发明(设计)人: | 张群芳;李沅民 | 申请(专利权)人: | 福建钧石能源有限公司 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 362000福建省泉*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 形成 方法 太阳能电池 制造 | ||
技术领域
本发明涉及光伏太阳能电池技术领域,特别涉及一种薄膜形成方法 和薄膜太阳能电池的制造方法。
背景技术
随着能源的日益短缺,可再生绿色能源的开发利用越来越受到人们 的关注,尤以太阳能的利用特别受到世人的青睐。作为太阳能转换媒介 的光伏器件(太阳能电池),通过光电效应将太阳光、白炽光或者荧光等 转化成电能。这种转化是当光线照射到光伏器件时,光能被器件的活性 区域所吸收产生电子和空穴对,然后这些电子和空穴被器件的内置电场 隔开,由外围电路收集输出电能。
最近几年,薄膜太阳能电池和大面积光伏模块越发引起世人的广泛 关注,特别是近年来出现的氢化非晶硅(a-Si:H)和微晶硅(μc-Si:H) 薄膜太阳能电池,以其大面积、低成本、可生成在轻薄衬底上并易于铺 设安装等优势在商业和住宅设施中的广泛应用显示出了巨大潜力。根据 已知的氢化非晶硅和微晶硅薄膜太阳能电池的结构,内部电场是在含有 由非晶硅和/或微晶硅制成的p型、本征(i)型和n型膜层的p-i-n结构 中产生,当适当波长的光线被吸收时,非掺杂型本征i层中就会生成电子 -空穴对。在内置电场的作用下,电子-空穴被分开,电子流向n型导电区, 而空穴流向p型导电区,这种电子-空穴流便产生光电压。
作为薄膜太阳能电池的非掺杂型本征i层的半导体材料要求具有较 强的光吸收能力,能够产生大量的电子空穴对,尽可能多地将入射光能 转化成有用的电能,进而提高薄膜太阳能电池的光电转换效率。在这方 面,微晶硅具有更高的载流子迁移率,而且能够吸收更多的长波光,光 电转换效率要高于非晶硅,而且在光照下不会出现非晶硅材料薄膜的光 致衰退效应,性能更加稳定。微晶硅与其它太阳能光伏电池中使用的材 料,特别是与多晶硅相比,能够在不超过几微米的厚度下吸收大部分的 太阳能辐射,而且制造工艺简单、成本低,因此微晶硅是制作薄膜太阳 能电池的理想材料。
现有形成微晶硅的方法主要是直接沉积的方法,包括射频或甚高频 等离子增强化学气相淀积(PECVD),热丝化学气相淀积(HW-CVD)和 电子回旋共振化学气相淀积(ECR-CVD)。PECVD工艺是利用氢气(H2) 稀释的硅烷(SiH4)气体为源气体,基板温度在150~260℃之间,利用射 频能量将反应气体激发为等离子体,在基板表面直接沉积形成微晶硅薄 膜,然而该方法在大面积沉积薄膜时为了保证薄膜的均匀性和稳定性通 常要具有比较低的沉积速率,例如低于,这极不利于提高生产效率 和降低制造成本。HW-CVD工艺主要是利用H2稀释的SiH4或SiF4气体 通过金属丝加热至高温分解后沉积在基板上形成微晶硅,然而该方法存 在金属离子污染微晶硅材料的问题,而且金属丝寿命有限,需要经常更 换,不便于连续可靠的大规模工业生产。ECR-CVD工艺是以H2稀释的 硅烷SiH4气体为源气体,利用高密度离子流在ECR等离子体区附近的基 板上沉积Si原子形成微晶硅薄膜。但该方法的结晶度较低,且生产设备 复杂,不利于降低生产成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种薄膜形成方法,能够以一种更简单可靠 的方式形成微晶硅薄膜。
根据本发明的薄膜形成方法,包括:
提供基底;
在所述基底表面沉积引晶层;
在所述引晶层表面沉积非晶硅层;
在高压氢气气氛中进行热退火处理,将所述非晶硅层转变为微晶硅 层。
优选的,氢气的压力为100~800个大气压。
优选的,所述热退火的温度为250℃~300℃,退火处理的时间为1~10 小时。
可选的,所述引晶层由氢气和硅烷的混合气体利用PECVD工艺沉积 形成,所述引晶层的沉积厚度为20纳米~300纳米。
优选的,所述氢气和硅烷的比例为30∶1至200∶1。
优选的,所述PECVD工艺的工艺条件包括,等离子体激发功率为 200mw/cm2~600mw/cm2,反应室内的压力为0.3Torr~20Torr,温度为100 ℃~300℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造