[发明专利]半导体封装体以及使用半导体封装体的半导体器件有效
申请号: | 200810126136.1 | 申请日: | 2008-06-27 |
公开(公告)号: | CN101335253A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 玉馆由香 | 申请(专利权)人: | 新光电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L23/13 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 顾红霞;彭会 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 以及 使用 半导体器件 | ||
1.一种半导体封装体,包括:
基板,其包括:
形成有连接盘焊盘的第一区域;以及
形成有倒装芯片连接焊盘的第二区域,所述第一区域位于 所述第二区域的外侧;以及
保护部件,其使所述第一区域内的连接盘焊盘露出,
其中,所述保护部件包括:
框架形结构部分,其布置在所述第一区域与所述第二区域之间 从而包围所述第二区域;以及
支撑膜部分,其布置成框架形从而沿着所述基板的表面的最外 周包围所述第一区域,
所述连接盘焊盘被阻焊层露出,并且
所述框架形结构部分和所述支撑膜部分设置在所述阻焊层上。
2.根据权利要求1所述的半导体封装体,其中,
所述支撑膜部分形成为从外侧包围所述框架形结构部分的框架 形状。
3.根据权利要求1所述的半导体封装体,其中,
所述支撑膜部分形成为位于所述框架形结构部分外侧的离散点 形状。
4.根据权利要求1所述的半导体封装体,其中,
所述支撑膜部分形成在所述连接盘焊盘的最外围位置的外侧。
5.根据权利要求1所述的半导体封装体,其中,
所述框架形结构部分与所述支撑膜部分的高度相同。
6.一种半导体器件,在所述半导体器件中,将半导体元件安装 在根据权利要求1所述的半导体封装体上,其中,
所述安装在半导体封装体上的半导体元件是通过倒装芯片连接 方式来连接的。
7.一种半导体器件,其中,
在竖直方向上层叠多个根据权利要求6所述的半导体器件,并 且
上层半导体器件中的外部连接端子与下层半导体器件中的连接 盘焊盘连接。
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