[发明专利]控制装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种控制装置，用来控制例如制钢厂或化工厂中的一个过程，具体地，涉及一种包括提供有处理器核的操作器并且要进行边界扫描测试的控制装置。

背景技术

由JTAG(联合测试行动组)提出的边界扫描测试(这里有时简称为“JTAG测试”)被标准化为IEEE标准1149.1-1990，作为一种测试利用集成电路实现的电子设备的方法，该电子设备难于进行探测板检测。

将参照图11说明JTAG测试。对于JTAG测试，举例来说，控制装置利用下述部件进行构造：一对JTAG测试器83和84作为测试电路，具有装在其上的用于它们的边界扫描的目标电路85和86；一组专用线87，用于JTAG测试器83和84的菊花链连接；JTAG控制器82，用来驱动JTAG测试器83和84执行扫描；PC(个人计算机)81，提供有边界扫描控制程序，用来控制该JTAG控制器82。

通常，该组专用线87包括一对串联的、分别为TDI(即连接到“测试数据输入”端的信号线)和TDO(即连接到“测试数据输出”端的信号线)的信号线，和并联的、分别为TMS(即连接到“测试模式选择”端的信号线)、TCK(即连接到“测试时钟”端的信号线)和TRST(即连接到“测试复位”端的信号线)的三条控制线。提供这样的一组线作为边界扫描总线。

如图11所示，用于待输入的数据的信号线TDI和用于待输出的数据的信号线TDO被链接，以便从JTAG控制器82开始串联经过JTAG测试器83、目标电路85、JTAG测试器84和目标电路86并结束在JTAG控制器82。控制线并联到目标电路，用于控制输入数据和输出数据经信号线TDI和TDO的传送。

JTAG测试器83具有：对应于待安装的目标电路85的I/O引脚83c的一组I/O(输入/输出)端子83a；一组边界扫描单元83b，用来扫描该组I/O端子83a和目标电路85之间的输入数据和输出数据。JTAG测试器83被配置为移位从JTAG控制器82串行输出的作为待经信号线TDI输入的数据以及来自相关边界扫描单元83b的全部输出数据的比特序列，作为待经信号线TDO输出的数据。

类似地，JTAG测试器84具有：对应于待安装的目标电路86的I/O引脚84c的一组I/O端子84a；一组边界扫描单元84b，用来扫描该组I/O端子84a和目标电路86之间的输入数据和输出数据。JTAG测试器84被配置为移位从JTAG控制器82串行输出的作为待经信号线TDI输入的数据以及来自相关边界扫描单元84b的全部输出数据的比特序列，作为待经信号线TDO输出的数据。

JTAG控制器82如预设的那样，遵循边界扫描控制程序来传送要经信号线TDI输入的串行数据、经信号线TDO接收来自目标电路85和86的输出数据、将那些输出数据与预设的参考值数据进行比较，以便确定输出数据是否相符。

I/O端子83a和84a连接到常规总线88，以便传输输入信号和输出信号以便经过其以常规控制模式被处理，该常规控制模式即目标电路85和86自身工作的模式。

对于提供有这种JTAG测试器的电子设备的集成度的改进，已经有人提出一些技术，其中电子装置自身起到这样的作用，即每当打开电源时，进行自动边界扫描来诊断其自身是否异常(见专利文件1)。

专利文件1：日本专利申请公开号No.9-5400

传统的边界扫描测试装置已经不能快速处理其上的突发问题，某些已经使用边界扫描控制设备来具有简单的边界扫描命令(还有其它命令)，执行这些命令来启动自身测试功能到印刷电路板上的边界扫描一致性IC，或者从这样的IC的特定寄存器读取(见专利文件2)。

专利文件2：日本专利申请公开号No.2000-206202

另一方面，在控制过程的控制装置的领域中，诸如制钢厂或化工厂，近年来，出现了包括多个处理器核(有时称为多核)的控制装置。

构成所述多核的处理器核包括一个通用的处理器核和一个专用处理器核，该通用处理器核用来处理通用命令，该命令能够例如由软件编程，该专用处理器核用来处理诸如音频或视频的特定操作。

前者适于执行通常的处理，而后者用来执行特定的高速率和低功耗的处理。这说明了构造有多个处理器(单纯的通用或专用，或者通用与专用处理器的混合体)的多核控制装置的比重增加的原因。

控制装置伴有可重构设备的升级应用，例如FPGA(现场编程门阵列)、PLD(可编程逻辑设备)等等，用作要在其上实施的处理器核的硬件。FPGA、PLD等等允许电路的任意重构，即使在基底上实施之后，这是它的一个优点。