[发明专利]控制装置有效
申请号: | 200810125336.5 | 申请日: | 2008-06-20 |
公开(公告)号: | CN101329621A | 公开(公告)日: | 2008-12-24 |
发明(设计)人: | 中谷博司;鲛田芳富;泽田彰;竹原润;竹根浩一;西川浩行 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G06F9/06 | 分类号: | G06F9/06;G01R31/3185 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制 装置 | ||
1.一种控制装置,包括:
操作器,包括一对处理器核,所述处理器核连接到边界扫描总线,并且适于在相对的处理器核之间进行相互诊断;
存储器,配置成在其中存储数据和要由所述操作器执行的程序;
I/O接口,配置用来为所述操作器中的相关过程处理输入和输出信号;以及
常规总线,配置用于所述操作器、存储器和I/O接口之间的常规连接,其中:
该对处理器核包括分别连接到所述边界扫描总线的第一通用处理器核和第二通用处理器核,
所述存储器具有:用于所述操作器执行边界扫描测试的一组第一边界扫描控制程序和第二边界扫描控制程序,用于分别确定相关边界扫描测试的结果的相符性的第一期望值数据和第二期望值数据,以及用于所述操作器执行控制的控制程序,
所述第一通用处理器核包括第一边界扫描测试器、要由所述第一边界扫描测试器测试的第一处理器内电路、和控制模式设定器,所述控制模式设定器配置用来选择要由所述操作器执行的控制程序或所述的一组第一和第二边界扫描控制程序,以便使控制装置的控制模式预设到所述第一处理器内电路,
所述第二通用处理器核包括第二边界扫描测试器和要由所述第二边界扫描测试器测试的第二处理器内电路,并且
对于以下两个边界扫描测试相互之间的分时实施遵循所述控制模式,所述的两个边界扫描测试包括:
由具有为其采样的第一边界扫描控制程序的第一处理器内电路从该第一处理器内电路开始经边界扫描总线执行到所述第二通用处理器核的边界扫描测试,以及
由具有为其采样的第二边界扫描控制程序的第二处理器内电路从该第二处理器内电路开始经所述边界扫描总线执行到所述第一通用处理器核的边界扫描测试,这取决于根据控制模式的设定从所述第一处理器内电路经过所述常规总线接收的诊断请求命令。
2.根据权利要求1的控制装置,其中:
所述I/O接口包括第三边界扫描测试器和待由所述第三边界扫描测试器测试的集成电路,
所述第三边界扫描测试器连接到所述边界扫描总线,并且
由以下电路之一并且从其开始对所述I/O接口执行边界扫描测试:
具有采样的所述第一边界扫描控制程序的第一处理器内电路,和
具有采样的所述第二边界扫描控制程序的第二处理器内电路。
3.根据权利要求1的控制装置,其中:
所述操作器还包括第一专用处理器核,所述第一专用处理器核包括第四边界扫描测试器和待由所述第四边界扫描测试器测试的第四处理器内电路,
所述第一专用处理器核连接到所述边界扫描总线,并且
根据控制模式的指令,由以下处理器内电路之一并且从其开始对所述第一专用处理器核执行边界扫描测试:
具有为其采样的所述第一边界扫描控制程序的所述第一处理器内电路,以及
具有为其采样的所述第二边界扫描控制程序的所述第二处理器内电路。
4.根据权利要求1的控制装置,其中:
设计工具经通信接口连接到所述常规总线,并配置成在其中存储用于所述第一处理器内电路和所述第二处理器内电路的一组设计数据和一组修补数据,
所述第一边界扫描测试器包括第一设计数据写控制器,其一端连接到所述边界扫描总线,其另一端连接到所述第一处理器内电路,
所述第二边界扫描测试器包括第二设计数据写控制器,其一端连接到所述边界扫描总线,其另一端连接到所述第二处理器内电路,
所述存储器中具有一组边界扫描测试的结果和第一期望值数据及第二期望值数据,
所述第一处理器内电路被配置为经所述边界扫描总线获取所述第二通用处理器核的边界扫描测试的第一结果,比较所述第一结果和所述第一期望值数据以便做出关于所述第一结果的相符性的第一决定,并且对于在所述第一决定之后确定存在问题,从所述设计工具采样预设的第一修补数据,并经所述第二设计数据写控制器用采样的第一修补数据重写存储在所述第二处理器内电路的非易失性存储器中的第一设计数据,并且
所述第二处理器内电路被配置为经所述边界扫描总线获取所述第一通用处理器核的边界扫描测试的第二结果,比较所述第二结果和第二期望值数据以便做出关于所述第二结果的相符性的第二决定,并且对于在所述第二决定之后确定存在异常,从所述设计工具采样预设的第二修补数据,并经所述第二设计数据写控制器用采样的第二修补数据重写存储在所述第一处理器内电路的非易失性存储器中的第二设计数据。
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