[发明专利]曝光设备焦距监测方法有效

专利信息
申请号: 200810113688.9 申请日: 2008-05-29
公开(公告)号: CN101592869A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 肖楠 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 李 丽
地址: 100176北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 曝光 设备 焦距 监测 方法
【权利要求书】:

1.一种扫描式曝光设备焦距在线监测的方法,其特征在于,包括:

提供具有基准标记的掩模板,所述具有基准标记的掩模板上具有产 品的某一层的图案,通过光刻工艺和刻蚀工艺,将所述基准标记转移到 基底上,在所述基底上形成基准标记图案;

提供具有测试标记的掩模板,所述具有测试标记的掩模板上具有产 品另外一层的图案;

在具有所述基准标记图案的基底上形成光刻胶层,利用所述的曝光 设备执行光刻工艺,将所述测试标记转移到所述光刻胶层中,形成测试 标记图案;

测量所述测试标记图案与基准标记图案的偏移量,其中,所述基准 标记和测试标记为中心重合的套刻标记,所述偏移量为测试标记图案与 基准标记图案的中心偏移量,所述测试标记和基准标记形成于具有产品 图案的掩模板的外围,所述监测方法与产品的光刻步骤同时进行;

若所述的偏移量不等于目标值,则所述曝光设备偏离最佳曝光位 置;

所述方法进一步包括:根据所述偏移量与曝光设备焦距的对应关 系,获得曝光设备的实际焦距。

2.如权利要求1所述的扫描式曝光设备焦距在线监测的方法,其 特征在于,进一步包括:判断所述偏移量是否超出目标值的阈值范围, 若是,则需要停止曝光设备工作。

3.如权利要求1所述的扫描式曝光设备焦距在线监测的方法,其 特征在于:通过套刻测量设备测量所述偏移量。

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