[发明专利]曝光设备焦距监测方法有效
| 申请号: | 200810113688.9 | 申请日: | 2008-05-29 |
| 公开(公告)号: | CN101592869A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
| 发明(设计)人: | 肖楠 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
| 主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李 丽 |
| 地址: | 100176北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 曝光 设备 焦距 监测 方法 | ||
1.一种扫描式曝光设备焦距在线监测的方法,其特征在于,包括:
提供具有基准标记的掩模板,所述具有基准标记的掩模板上具有产 品的某一层的图案,通过光刻工艺和刻蚀工艺,将所述基准标记转移到 基底上,在所述基底上形成基准标记图案;
提供具有测试标记的掩模板,所述具有测试标记的掩模板上具有产 品另外一层的图案;
在具有所述基准标记图案的基底上形成光刻胶层,利用所述的曝光 设备执行光刻工艺,将所述测试标记转移到所述光刻胶层中,形成测试 标记图案;
测量所述测试标记图案与基准标记图案的偏移量,其中,所述基准 标记和测试标记为中心重合的套刻标记,所述偏移量为测试标记图案与 基准标记图案的中心偏移量,所述测试标记和基准标记形成于具有产品 图案的掩模板的外围,所述监测方法与产品的光刻步骤同时进行;
若所述的偏移量不等于目标值,则所述曝光设备偏离最佳曝光位 置;
所述方法进一步包括:根据所述偏移量与曝光设备焦距的对应关 系,获得曝光设备的实际焦距。
2.如权利要求1所述的扫描式曝光设备焦距在线监测的方法,其 特征在于,进一步包括:判断所述偏移量是否超出目标值的阈值范围, 若是,则需要停止曝光设备工作。
3.如权利要求1所述的扫描式曝光设备焦距在线监测的方法,其 特征在于:通过套刻测量设备测量所述偏移量。
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