[发明专利]一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法

权利要求书

1、一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法，其特征在于步骤如下：

(1)对FPGA内嵌的各双端口存储器的两个存储端口进行编号，分别为端口A(201)和端口B(202)；

(2)将各内嵌双端口存储器端口A(201)的输入地址端A(203)、输入数据端A(204)、端口使能端A(205)、读写使能端A(206)、复位控制端A(207)、时钟输入端A(208)分别并联在一起作为公共输入端A(301)，将各内嵌双端口存储器端口A(201)的输出端(215)按位分别并联在一起作为并行输出端A(305)；将各内嵌双端口存储器端口B(202)的输入地址端B(209)、输入数据端B(210)、端口使能端B(211)、读写使能端B(212)、复位控制端B(213)、时钟输入端B(214)分别并联在一起作为公共输入端B(302)，将各内嵌双端口存储器端口B(202)的输出端(216)按位分别并联在一起作为并行输出端B(306)；

(3)将各内嵌双端口存储器配置为相同的工作模式；

(4)将各内嵌双端口存储器的端口A(201)设为有效，端口B(202)设为无效，通过公共输入端A(301)对并联的各存储器施加March C算法测试向量进行故障测试；

(5)将各内嵌双端口存储器的端口B(202)设为有效，端口A(201)设为无效，通过公共输入端B(302)对并联的各存储器施加March C算法测试向量进行故障测试；

(6)将各内嵌双端口存储器的端口A(201)和端口B(202)同时设为有效，通过公共输入端A(301)和公共输入端B(302)对并联的各存储器同时施加组合向量进行两端口的关联性故障测试；

(7)将各内嵌双端口存储器设置为相同的其它工作模式，重复步骤(4)～(6)进行测试。

2、根据权利要求1所述的一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法，其特征在于：所述步骤(4)中通过公共输入端A(301)对并联的各存储器施加March C算法测试向量进行故障测试的方法为：

(1)各内嵌双端口存储器通过端口使能端A(205)激活端口A(201)，通过端口使能端B(211)关闭端口B(202)；

(2)按任意顺序给存储器的每个地址单元的每个存储位写入0；然后按升序从存储器的起始地址开始读出每个地址单元的每个存储位的存储值，各存储器的读出值按位进行或操作和异或操作，判断对应位是否都相同并且都为0；

(3)按升序从存储器的起始地址开始给每个地址单元的每个存储位写入1，然后按升序从存储器的起始地址开始读出每个地址单元的每个存储位的存储值，各存储器的读出值按位进行与操作和异或操作，判断对应位是否都相同并且都为1；

(4)按升序从存储器的起始地址开始给每个地址单元的每个存储位写入0，然后按降序从存储器的末地址开始读出每个地址单元的每个存储位的存储值，各存储器的读出值按位进行或操作和异或操作，判断对应位是否都相同并且都为0；

(5)按降序从存储器的末地址开始给每个地址单元的每个存储位写入1，然后按降序从存储器的末地址开始读出每个地址单元的每个存储位的存储值，各存储器的读出值按位进行与操作和异或操作，判断对应位是否都相同并且都为1；

(6)按降序从存储器的末地址开始给每个地址单元的每个存储位写入0，然后按任意顺序从存储器的末地址开始读出每个地址单元的每个存储位的存储值，各存储器的读出值按位进行或操作和异或操作，判断对应位是否都相同并且都为0。