[发明专利]高密度基板的结构与制法有效

专利信息
申请号: 200810108556.7 申请日: 2008-05-27
公开(公告)号: CN101594750A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 李孟翰;蓝蔚文;庄景名;尚希贤 申请(专利权)人: 南亚电路板股份有限公司
主分类号: H05K3/42 分类号: H05K3/42;H05K1/11
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 吴小瑛
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 高密度 结构 制法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种高密度基板及其制法,且特别涉及一种利用激光钻孔制备高密度基板的方法。 

背景技术

随着电子产业的蓬勃发展,电子产品不断往轻、薄、短、小发展,印刷电路板(printed circuit board,PCB)亦逐渐朝向高密度布线互连(high density interconnection,HDI)工艺技术发展,使得能在更狭小的空间里提供更多的功能,进而达到整体系统成本的降低。在HDI的技术中,为符合高密度布线、细间距以及电路板尺寸微型化的封装趋势,因此有Via-on-Pad(VOP)的设计,意即导通孔位于锡球垫之上。由于传统的机械钻孔方式会击穿PCB双面板,使得面板上的导电铜箔被破坏,因此业界改采激光钻孔(laser drilling)方式,以能更精准的控制钻孔的尺寸及位置。 

目前业界利用激光钻孔技术制作双面板导通孔的方法,主要分为三种,第一种为减成法(full-substactive process,又称负片流程),第二种为半减成法(semi-substractive process),第三种为改良式半加成法(modified semi-additive process,又称正片流程)。 

减成法的双面铜箔基板一般使用厚度约12μm(或18μm)的铜箔。之后进行激光钻孔工艺形成通孔时,由于基材的下表面铜箔至少约12μm,所以能避免激光击穿的问题产生,但是缺点在于蚀刻步骤时,因为钻孔后之上表面铜箔或下表面铜箔太厚,造成蚀刻时间较久,使得侧蚀现象严重,因此细线路能力(fine line capability)受阻。 

半减成法与改良式半加成法的双面铜箔基板皆使用厚度约4μm的超薄铜箔。半减成法工艺的优点在于,蚀刻步骤时,由于上表面铜箔或下表面铜箔较薄,所以进行蚀刻步骤时,侧蚀现象不严 重,可得到较好的细线路,但也因为使用超薄铜箔,会使得激光加工不易,造成生产成本提高以及击穿的比例甚高。 

因此,业界亟需一种改良的工艺,不但能避免激光击穿的问题产生,且能使双面板具有较高细线路能力。 

发明内容

本发明的目的之一就是提供一种高密度基板的制作方法及其结构,同时能避免激光击穿与达到细线路能力。 

为达上述与其它目的,本发明提供一种高密度基板的制作方法,包括以下步骤:提供一双面铜箔基板,其具有一上表面铜箔和一下表面铜箔;于该下表面铜箔的下表面形成一底垫片,该底垫片设置于一通孔的预定位置;以激光钻孔形成该通孔,该通孔穿过该上表面铜箔与该基板,但不穿透该底垫片;于该通孔中顺应地形成一晶种层;以及于该晶种层上电镀一金属以形成一导通孔。 

本发明还提供一种高密度基板的结构,包括:一基板,一上表面铜箔,形成于该基板的上表面;一通孔,穿过该上表面铜箔与该基板;一晶种层,顺应地形成于该通孔中;一金属,设置于该晶种层上且填入该通孔;一下表面铜箔,形成于该基板的下表面;以及一底垫片,直接形成于该下表面铜箔之下,且对应于该通孔。 

附图说明

第1A~1I图为一系列剖面图,用以说明本发明实施例制作高密度基板的流程。 

【主要组件符号说明】 

10~双面铜箔基板; 

20~上表面铜箔; 

30~下表面铜箔; 

40~第一光阻层; 

50~第一开口; 

60~底垫片; 

70~第二开口; 

80~通孔; 

90~晶种层; 

100~第二光阻层; 

110~电镀铜。 

具体实施方式

为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂,下文特举出优选的实施例,并配合附图,作详细说明如下: 

【实施方式】 

以下将配合图1A到图1I详细说明本发明的实施例的高密度基板的制作方法。此处必须注意的是,该些附图均为简化的示意图,以强调本发明的特征,因此图中的组件尺寸并非完全依实际比例绘制。且本发明的实施例也可能包含图中未显示的组件。 

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