[发明专利]在基材上形成穿导孔的方法有效
申请号: | 200810099850.6 | 申请日: | 2008-05-26 |
公开(公告)号: | CN101281883A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 王盟仁 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/60 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 台湾省高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基材 形成 穿导孔 方法 | ||
1.一种在基材上形成穿导孔的方法,包括:
(a)提供一基材,该基材具有第一表面及第二表面;
(b)形成一开槽于该基板;
(c)填入一导电金属于该开槽内;
(d)移除位于该导电金属外围的部分基材,且保留该导电金属,使得该导电金属与该基材之间形成一容置空间;
(e)形成一绝缘材料于该容置空间;及
(f)去除部分该基材的第二表面,以显露该导电金属及该绝缘材料。
2.如权利要求1的方法,其中该步骤(a)中,该基材为一晶片。
3.如权利要求1的方法,其中该步骤(b)包括
(b1)形成一第一光阻层于该基材的第一表面;
(b2)于该第一光阻层上形成第一开口;及
(b3)根据该第一开口于该基材上形成该开槽。
4.如权利要求3的方法,其中该步骤(b3)之后更包括一移除该第一光阻层的步骤。
5.如权利要求1的方法,其中该步骤(b)中,该开槽并未贯穿该基材。
6.如权利要求1的方法,其中该步骤(c)中该导电金属是填满该开槽。
7.如权利要求1的方法,其中该步骤(c)中该导电金属是不填满该开槽,而形成一中心槽,且在步骤(e)中该绝缘材料是填满该容置空间及该中心槽。
8.如权利要求1的方法,其中该步骤(c)之后更包括一移除位于该开槽之外的导电金属的步骤。
9.如权利要求1的方法,其中该步骤(d)包括:
(d1)形成第二光阻层于该基材的第一表面上;
(d2)于该第二光阻层上形成第二开口,该第二开口的位置是相对于该开槽的位置且该第二开口大于该开槽;及
(d3)移除位于该导电金属外围的部分基材,且保留该导电金属,使得该导电金属与该基材之间形成一容置空间。
10.如权利要求1的方法,其中该步骤(d)包括:
(d1)形成第二光阻层于该基材的第二表面上;
(d2)于该第二光阻层上形成第二开口,该第二开口的位置是相对于该开槽的位置且该第二开口大于该开槽;及
(d3)移除位于该导电金属外围的部分基材,且保留该导电金属,使得该导电金属与该基材之间形成一容置空间。
11.如权利要求1的方法,其中该步骤(e)中该绝缘材料为聚合物(Polymer)。
12.如权利要求11的方法,其中该步骤(e)包括:
(e1)均布该聚合物于该容置空间的相对位置;及
(e2)以真空吸附方式将该聚合物吸入该容置空间内。
13.如权利要求11的方法,其中该步骤(e)包括:
(e1)形成数个排气孔,以连通该容置空间至该基材的第二表面;
(e2)均布该聚合物于该容置空间的相对位置;及
(e3)填入该聚合物至该容置空间及所述排气孔内。
14.如权利要求11的方法,其中该步骤(e)是以喷涂方式(Spray coat)使该聚合物雾化且沈积于该容置空间内。
15.如权利要求1的方法,其中该步骤(f)更包括以蚀刻或研磨去除部分该基材的第一表面。
16.如权利要求1的方法,其中该步骤(f)是蚀刻或研磨该基材的第二表面。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日月光半导体制造股份有限公司,未经日月光半导体制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810099850.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于塑料容器的质量控制的方法
- 下一篇:等离子体显示面板
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造