[发明专利]具有导热结构的电路板有效
申请号: | 200810098411.3 | 申请日: | 2008-05-26 |
公开(公告)号: | CN101594730A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | 周保宏;朱志亮;王维骏 | 申请(专利权)人: | 全懋精密科技股份有限公司 |
主分类号: | H05K1/02 | 分类号: | H05K1/02;H05K1/18;H05K3/46;H01L23/12;H01L23/36;H01L23/498;H01L25/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 戈 泊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 导热 结构 电路板 | ||
技术领域
本发明涉及一种电路板结构,特别是涉及一种具有导热结构的电 路板。
背景技术
随着半导体封装技术的演进,半导体装置(Semiconductor device) 已开发出不同的封装型态,其中球栅阵列式(Ball grid array,BGA)为一 种先进的半导体封装技术,其特点在于采用一封装基板来承载安置半 导体芯片,并于该封装基板背面形成多个栅状阵列排列的锡球(Solder ball),以于相同单位面积中可具有更多输入/输出连接端(I/O connection),以符合高度集成化(Integration)的半导体芯片所需,并通过 所述锡球以电性连接至外部的电子装置。
随着电子产业的蓬勃发展,电子产品亦逐渐迈入多功能、高性能 的研发方向。为满足半导体封装件高集成度(Integration)以及微型化 (Miniaturization)的封装需求,半导体芯片于运行时所产生的热量将明 显增加,若无法将半导体芯片产生的热量及时有效逸散,将严重降低 半导体芯片的性能及缩短其寿命。
如图1所示,为现有电路板接置半导体元件的剖面结构示意图, 提供一具有第一表面100a及第二表面100b的承载板100,该承载板 100为具有线路的电路板,于该第一表面100a及第二表面100b分别具 有一第一介电层11a及第二介电层11b,于该第一及第二介电层11a、 11b表面分别形成有一第一及第二线路层12a、12b,该第一线路层12a 具有第一电性连接垫121a及第二电性连接垫122a,又该第二线路层 12b具有第三电性连接垫121b,于该承载板100、第一及第二介电层 11a、11b中形成至少一电镀导通孔(plating through hole,PTH)13以电性 连接该第一及第二线路层12a、12b,并于该第一及第二介电层11a、11b 及第一及第二线路层12a、12b表面形成有绝缘保护层14,且于该绝缘 保护层14中形成有绝缘保护层开口140、141以露出该第一、第二电 性连接垫121a、122a及第三电性连接垫121b,并于该第一、第二及第 三电性连接垫121a、121b表面形成有如镍/金(先镀镍再镀金)的金属保 护层16,并于该第一及第三电性连接垫121a、121b表面的金属保护层 16形成一如锡球的导电元件15以供电性连接其它电子装置,又于该承 载板100的第一表面100a的绝缘保护层14接置有一半导体元件17, 该半导体元件17具有一有源面17a及相对的非有源面17b,于该半导 体元件17的有源面17a具有多个电极垫171,且该半导体元件17以其 非有源面17b接置于该承载板100的第一表面100a,另该绝缘保护层 14中的绝缘保护层开口141并露出披覆有金属保护层16的第二电性连 接垫122a,于该金属保护层16表面是以一例如金属导线的第二导电元 件18电性连接该半导体元件17的电极垫171与第二电性连接垫122a, 而后再形成一封装胶体19覆盖于打线完成的第二导电元件18及半导 体元件17表面,以保护该第二导电元件18及半导体元件17。
但是,该半导体元件17位于该第一介电层11a表面上,使该封装 后的半导体元件17运行时产生的热能无法有效散逸,尤其是该半导体 元件17的非有源面17b接置于几乎无法散热的绝缘保护层14的表面, 导致该半导体元件17极易损坏。
如图2A所示,为另一现有电路板接置半导体元件的剖面结构示意 图,是提供一例如图1所示的承载板100,于该第一表面100a的第一 介电层11a中形成有一开口110a以露出该承载板100的表面,又该第 一介电层11a表面上的绝缘保护层14形成有绝缘保护层开口142以露 出该第一介电层11a表面的第一线路层12a的第二电性连接垫122a及 该第一介电层11a的开口110a,其中该第二电性连接垫122a表面形成 该金属保护层16,该半导体元件17的非有源面17b接置于该开口110a 中的承载板100表面,且该半导体元件17的有源面17a的电极垫171 以该第二导电元件18电性连接该第二电性连接垫122a表面的金属保 护层16,并以该封装胶体19覆盖于打线完成的第二导电元件18及半 导体元件17表面,以保护该第二导电元件18及半导体元件17。从而 通过该半导体元件17接置于该开口110a中以降低半导体封装结构的 整体厚度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于全懋精密科技股份有限公司,未经全懋精密科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810098411.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。