[发明专利]具有金属接触层的功率半导体基片及其制造方法有效
申请号: | 200810096735.3 | 申请日: | 2008-05-09 |
公开(公告)号: | CN101304012A | 公开(公告)日: | 2008-11-12 |
发明(设计)人: | C·格布尔;H·布拉姆尔 | 申请(专利权)人: | 塞米克朗电子有限及两合公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L23/498;H01L23/15;H01L21/48;H01B1/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 沈英莹 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 金属 接触 功率 半导体 及其 制造 方法 | ||
1.功率半导体基片(10),包括一绝缘的面状的基体(12)、至少 一个印制导线(16)和至少一个作为该印制导线(16)的部分的接触 面(162),其中,在该接触面(162)上设置一金属材料层(20),该 金属材料层借助于对由金属材料和溶剂制成的膏状层施加压力而制 成,所述金属材料层用于与一接触弹簧压力接触,并且其中该金属材 料层与该印制导线(16)连接,金属材料层(20)具有至少10μm的 厚度。
2.按照权利要求1所述的功率半导体构件,其特征在于,金属材 料具有一至少10微米的层厚和一贵金属多于90%的份量。
3.按照权利要求2所述的功率半导体构件,其特征在于,所述贵 金属是银。
4.按照权利要求1所述的功率半导体构件,其特征在于,在接触 面(162)与金属材料层(20)之间设置一贵金属的另一金属层(18), 所述另一金属层(18)具有几个原子层的层厚度。
5.用于制造一按照权利要求1所述的功率半导体基片(10)的方 法,包括下列主要的步骤:
制造一功率半导体基片,该功率半导体基片包括一面状的绝缘的 基体(12)、印制导线(16)和作为这些印制导线(16)的部分的接触 面(162);
将由金属材料和溶剂制成的膏状层设置在功率半导体基片(10) 的至少一个接触面(162)上,;
对膏状层施加压力(30),从而形成具有至少10μm的厚度的金属 材料层。
6.按照权利要求5所述的方法,其特征在于,借助于一丝网印刷 方法涂覆膏状层。
7.按照权利要求5所述的方法,其特征在于,借助一压力机和两 冲模施加压力(30),其中至少一个冲模构成有一在其上设置的产生近 似静压压力的硅酮垫。
8.按照权利要求5所述的方法,其特征在于,在施加压力(30) 时的最大的最终压力相当于至少8MPa。
9.按照权利要求5所述的方法,其特征在于,在施加压力(30) 的过程中将功率半导体基片(10)加热到大于350K。
10.按照权利要求5所述的方法,其特征在于,在施加压力(30) 之前用一薄膜(40)覆盖功率半导体基片(10)。
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