[发明专利]多晶硅薄膜太阳能电池的制造方法有效
| 申请号: | 200810049380.2 | 申请日: | 2008-03-19 |
| 公开(公告)号: | CN101540346A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
| 发明(设计)人: | 高文秀 | 申请(专利权)人: | 高文秀 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0368 |
| 代理公司: | 郑州联科专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 田小伍 |
| 地址: | 210083*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 多晶 薄膜 太阳能电池 制造 方法 | ||
技术领域
本发明属于太阳能电池技术领域,特别是一种在低纯度3N级多晶硅衬底上制造多晶硅薄膜太阳能电池的方法。
相关的背景技术
太阳能是一种干净、清洁、无污染、取之不尽用之不竭的自然能源,将太阳能转换为电能是大规模利用太阳能的重要技术基础,受到世界各国的普遍重视。受单晶硅材料价格和单晶硅电池制备过程的影响,作为单晶硅太阳能电池的替代产品,薄膜太阳能电池以其低成本、高转换效率、适合规模生产等优点,引起生产厂家的广泛兴趣,薄膜太阳能电池的产量迅速增长。多晶硅薄膜电池既具有晶体硅电池的高效、稳定、无毒和资源丰富的优势,又具有薄膜电池工艺简单、材料节省、成本大幅度降低的优点,多晶硅薄膜电池的研究开发已成为近几年的热点。而多晶硅薄膜电池研究的关键技术是发展性能优良的廉价衬底材料。通常的情况下,人们选择价格低廉的玻璃作为衬底,然后在一定的保护气氛下反应生成硅原子并沉积在衬底表面。但是,直接在玻璃上用CVD法沉积多晶硅,较难形成较大的晶粒,并且容易在晶粒之间形成孔隙,对制备较高效率的电池不利。因此对再结晶技术进一步改进,以提高晶粒尺寸,其具体方法是:先用化学气相沉积(CVD)法在衬底表面形成一层较薄的非晶硅层,再用高温将这层非晶硅层退火,得到较大的晶粒,用这层较薄的大尺寸多晶硅层作为籽晶层,在其上面用CVD法生长厚的多晶硅膜。可以看出,这种CVD法制备多晶硅薄膜太阳电池的方法还要寻找一种较好的再结晶技术,这样的方法也能形成效率高的多晶硅薄膜电池,但是它增加了工艺的复杂程度,从而增加了制造电池的成本,效率的提高不能弥补工艺增加的成本。与此同时,由于衬底与外延层晶格和膨胀系数的不匹配,从而使外延层产生大量位错等缺陷,再次区熔结晶也不能消除。
发明内容
本发明的目的是提供一种低成本、高效率、易于产业化的多晶硅薄膜太阳能电池的制造方法。
为达上述目的,本发明采用如下技术方案:多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,包括在衬底上外延形成第一半导体层和第二半导体层步骤、形成接触电极步骤和在第二半导体层上形成一层减反射膜步骤,衬底选择3N级纯度多晶硅片。
衬底选择3N级纯度高掺杂的具有大晶粒柱状晶的多晶硅片。
多晶硅片经高温处理在表面形成杂质耗尽层。
多晶硅片高温处理步骤为:把多晶硅片放入反应室中带有射频感应加热线圈的基座上,于1200±20℃加热15±5分钟,与此同时通入氢气。
多晶硅片高温处理后于1150±5℃退火处理10±5分钟。
外延形成第一半导体层步骤为:把反应组分硅烷或者三氯硅烷经高纯氢气稀释到体积浓度1%-10%、掺杂组分B2H6经高纯氢气稀释到体积浓度1%-5%,分别同时通入反应室于1150℃进行化学气相沉积,沉积至外延层把衬底轻微盖后停止供料,通氢气至边界层中的杂质排尽,再继续供料沉积至规定厚度。
外延形成第二半导体层步骤为:在第一半导体层表面以液态扩散源POCl3浓度为1019/cm3于850-900℃扩散形成第二半导体层至规定厚度,形成p-n结。
取出带p-n结的多晶硅片清除边缘淀积的杂质,进行减反射膜淀积,再形成太阳能电池上下电极。
本发明过程中,既可先进行p型半导体的外延、然后进行p型半导体的外延,也可以先进行n型半导体层的外延、然后进行p型半导体的外延,只不过电极方向发生变化。
本发明使用低纯度的多晶硅作为衬底,由于外延层半导体也为硅半导体层,在进行外延时,外延层和衬底层的晶格能很好的匹配,没有晶体缺陷和内应力,并且外延层可以以衬底为籽晶生长,生长出大晶粒的多晶层。通过对多晶硅片进行高温加热处理,使低纯度的多晶硅表面层内含有的杂质得以扩散蒸发清除,从而减少在外延时对外延层进行扩散污染。如果再进行退火处理,还能使衬底进行二次结晶形成大晶粒的多晶硅。外延生长用适应性广的射频感应线圈加热,可以保证硅片内形成有效的温度梯度,使硅片表面的温度高于背面的温度,从而减少外延时衬底表面的杂质向外延层扩散,使外延层中杂质分布很陡,过渡层很薄,使得外延层沿着衬底晶粒的方向和大小生长,外延层可形成良好的大粒度的柱状晶,每一个柱状晶是一个太阳能电池,多个柱状晶相当于多个太阳能电池并联,从而实现太阳能电池的高效率。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





