[发明专利]多晶硅薄膜太阳能电池的制造方法有效
| 申请号: | 200810049380.2 | 申请日: | 2008-03-19 |
| 公开(公告)号: | CN101540346A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
| 发明(设计)人: | 高文秀 | 申请(专利权)人: | 高文秀 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0368 |
| 代理公司: | 郑州联科专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 田小伍 |
| 地址: | 210083*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 多晶 薄膜 太阳能电池 制造 方法 | ||
1.多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,包括在衬底上外延形成第一半导体层和第二半导体层步骤、形成接触电极步骤和在第二半导体层上形成一层减反射膜步骤,其特征在于,衬底选择3N级纯度多晶硅片,多晶硅片先经高温处理在表面形成杂质耗尽层;多晶硅片高温处理步骤为:把多晶硅片放入反应室中带有射频感应加热线圈的基座上,于1200±20℃加热15±5分钟,与此同时通入氢气。
2.根据权利要求1所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,衬底选择3N级纯度高掺杂的具有大晶粒柱状晶的多晶硅片。
3.根据权利要求1或2所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,多晶硅片高温处理后于1150±5℃退火处理10±5分钟。
4.根据权利要求3所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,外延形成第一半导体层步骤为:把反应组分硅烷或者三氯硅烷经高纯氢气稀释到体积浓度1%-10%、掺杂组分B2H6经高纯氢气稀释到体积浓度1%-5%,分别同时通入反应室于1150℃进行化学气相沉积,沉积至外延层把衬底轻微盖住后停止供料,通氢气至边界层中的杂质排尽,再继续供料沉积至规定厚度。
5.根据权利要求4所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,外延形成第二半导体层步骤为:在第一半导体层表面以液态扩散源POCl3浓度为1019/cm3于850-900℃扩散形成第二半导体层至规定厚度,形成p-n结。
6.根据权利要求5所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,取出带p-n结的多晶硅片清除边缘淀积的杂质,进行减反射膜淀积,再形成太阳能电池接触电极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





