[发明专利]多晶硅薄膜太阳能电池的制造方法有效

专利信息
申请号: 200810049380.2 申请日: 2008-03-19
公开(公告)号: CN101540346A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 高文秀 申请(专利权)人: 高文秀
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0368
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 代理人: 田小伍
地址: 210083*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 多晶 薄膜 太阳能电池 制造 方法
【权利要求书】:

1.多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,包括在衬底上外延形成第一半导体层和第二半导体层步骤、形成接触电极步骤和在第二半导体层上形成一层减反射膜步骤,其特征在于,衬底选择3N级纯度多晶硅片,多晶硅片先经高温处理在表面形成杂质耗尽层;多晶硅片高温处理步骤为:把多晶硅片放入反应室中带有射频感应加热线圈的基座上,于1200±20℃加热15±5分钟,与此同时通入氢气。

2.根据权利要求1所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,衬底选择3N级纯度高掺杂的具有大晶粒柱状晶的多晶硅片。

3.根据权利要求1或2所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,多晶硅片高温处理后于1150±5℃退火处理10±5分钟。

4.根据权利要求3所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,外延形成第一半导体层步骤为:把反应组分硅烷或者三氯硅烷经高纯氢气稀释到体积浓度1%-10%、掺杂组分B2H6经高纯氢气稀释到体积浓度1%-5%,分别同时通入反应室于1150℃进行化学气相沉积,沉积至外延层把衬底轻微盖住后停止供料,通氢气至边界层中的杂质排尽,再继续供料沉积至规定厚度。

5.根据权利要求4所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,外延形成第二半导体层步骤为:在第一半导体层表面以液态扩散源POCl3浓度为1019/cm3于850-900℃扩散形成第二半导体层至规定厚度,形成p-n结。

6.根据权利要求5所述的多晶硅薄膜太阳能电池制造方法,其特征在于,取出带p-n结的多晶硅片清除边缘淀积的杂质,进行减反射膜淀积,再形成太阳能电池接触电极。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高文秀,未经高文秀许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810049380.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top