[发明专利]一种静态随机访问存储器的存储单元无效
| 申请号: | 200810047681.1 | 申请日: | 2008-05-12 |
| 公开(公告)号: | CN101315810A | 公开(公告)日: | 2008-12-03 |
| 发明(设计)人: | 余国义;邹雪城;雷鑑铭;刘冬生;陈晓飞;余凯;龙爽;陈云武;王伟旭;陈越;陈龙 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
| 主分类号: | G11C11/413 | 分类号: | G11C11/413 |
| 代理公司: | 华中科技大学专利中心 | 代理人: | 曹葆青 |
| 地址: | 430074湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 静态 随机 访问 存储器 存储 单元 | ||
1、一种静态随机访问存储器单元,包括锁存电路(1)和位选择电路(2),其特征在于:该单元还包括单掷开关电路(3),单掷开关电路(3)的两端分别接锁存电路(1)的第一数据存储节点(X)和第二数据存储节点(X)。
2、根据权利要求1所述的静态随机访问存储器单元,其特征在于:单掷开关电路(3)为一个MOS晶体管开关。
3、根据权利要求2所述的静态随机访问存储器单元,其特征在于:单掷开关电路(3)为本征MOS管、耗尽型PMOS管或低阈值PMOS管。
4、根据权利要求1、2或3所述的静态随机访问存储器单元,其特征在于:锁存电路(1)包括NMOS管T1和T3以及PMOS管T2和T4,位选择电路(2)包括NMOS管T5和T6;两个PMOS管T2和T4是负载管,其源极相连,接电压VDD;两个NMOS管T1和T3为存储管,PMOS管T2和NMOS管T1的漏极相连,接第一数据存储节点(X),PMOS管T4和NMOS管T3的栅极相连,也接第一数据存储节点(X);PMOS管T4和NMOS管T3的漏极相连,接第二数据存储节点(X),PMOS管T2和NMOS管T1的栅极相连,也接第二数据存储节点(X);NMOS管T1和T3的源极连接到地,NMOS管T5和T6的栅极相连,接第一字线(WL1)信号;NMOS管T5的源极接第一数据存储节点(X),漏极接第一位线(BL1);NMOS管T6的源极接第二数据存储节点(X),漏极接第一互补的位线(BL1)。
5、根据权利要求4所述的静态随机访问存储器单元,其特征在于:位选择电路(2)还包括NMOS管T9,NMOS管T9为隔离管,NMOS管T9的漏极接NMOS管T6的源极,NMOS管T9的栅极接第二数据存储节点X,源极连接地;NMOS管T1的源极连接到写预充电信号线PL。
6、根据权利要求4所述的静态随机访问存储器单元,其特征在于:位选择电路(2)还包括PMOS管T10和T11,PMOS管T10的源极接第一数据存储节点(X),漏极接第二位线(BL2);PMOS管T11的源极接第二数据存储节点(X),漏极接第二互补的位线(BL2),PMOS管T10和T11的栅极连接,接第二字线(WL2)。
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