[发明专利]电子天平量程校准方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子天平的校准，尤其涉及用于电子天平量程校准及零点漂移修正的电子天平量程校准方法。 

背景技术

由于电子天平(如电磁力补偿式、电阻应变片式、振弦式等电子天平)是由若干个不同零件组装而成，因此，随着温度的变化、长时间的操作，电子天平的零点及量程通常会发生变化，导致称量结果不够准确。有时随着称量地点的变化，如从1楼到10楼或从上海到北京，量程也会发生变化。 

另一方面，欧洲、美国等对贸易天平的零点及量程漂移量有严格的要求，不能超过某一最大允许值。中国也将提高电子天平这一性能的要求。所以，零点、量程漂移较大的电子天平将无法进入市场。 

为了解决量程漂移问题，当前电子天平都具有量程校准功能，校准方法为，以开机零点(开机时空称盘的读数)为基准，称量一次加载(满载或半载或其他小于满载的已知质量)，计算新的灵敏度系数，更新天平中灵敏度系数。这种方法的不足之处在于，当天平存在零点漂移时，量程校准后零点漂移依然存在，漂移量可能被放大或缩小(与灵敏度变化有关)。这一现象是用户不希望的，同时如果零点漂移值很大，可能无法满足各国的标准要求。 

有的电子天平为了解决零点漂移问题，在每次量程校准之前强制用户做清零操作。对用户来说，这种做法不方便、不够人性化。 

发明内容

本发明的目的在于提出一种电子天平量程校准方法，以同时解决量程漂移及零点漂移问题。 

为此，本发明提出一种电子天平量程校准方法，包括如下步骤：a)称量并记录电子天平第一次空载读数；b)称量并记录电子天平加载已知质量砝码的读数；c)称量并记录电子天平第二次空载读数；d)根据第一次、第二次空载读数及加载读数求解新的灵敏度系数及零点修正系数；以及e)更新所述电子天平的灵敏度系数及零点修正系数。 

上述步骤a)中，当第一空载读数小于第一阈值时，直接启动量程校准程序，反之，要求用户清空称盘，直至空载读数小于第一阈值。在步骤c)中，当第二、第一空载读数差异小于第二阈值时，直接进入步骤d)，反之，要求用户恢复第一空载时称盘空载状态(通常为清空称盘)，重读第二空载数据，直至两次空载之差小于第二阈值，然后进入步骤d)。为了降低空载称量的随机干扰，提高量程校准精度，可以取两次空载AD(模数转换)值平均值作为实际空载AD值，用于计算灵敏度系数。 

在一个实施例中，步骤d)中根据第一、第二次空载读数的平均值及加载读数求解所述新的灵敏度系数。 

在一个实施例中，步骤d)中根据第二次空载读数及加载读数求解所述新的灵敏度系数。 

在一个实施例中，步骤d)中可以根据第一次空载读数、第二次空载读数或两者平均值其中之一以及新的灵敏度系数求解新的零点修正系数。 

步骤b)中的加载通常使用接近满载的标准砝码，当天平线性度很好时，可以减轻加载砝码的质量。 

设电子天平第一次空载AD值为x01，加载已知质量Ls的AD值为x1，卸载后第二次空载AD值为x02，则空载平均值为x0＝(x01+x02)/2，电子天平新的灵敏度系数a1为 

a1＝(Ls-0)/(x1-x0)＝Ls/(x1-x0) 

于是，新的称量读数按如下公式计算 

L＝a1*x+a0 

其中，a0＝-a1*x02 

x为电子天平的AD值，L为显示读数，a0为零点修正系数，保证校准后空载显示为0。 

因此，本发明的电子天平量程校准方法可以同时解决量程漂移及零点漂移问题，并提高校准精度。本方法同时适用于外校天平及内校天平的量程校准。 

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中： 

图1为根据本发明一实施例的量程校准方法流程图。 

图2为根据本发明一实施例的量程校准方法详细执行流程图。 

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细说明： 

参照图1所示，首先，如步骤10，称量并记录电子天平第一次空载读数。此空载读数可以在电子天平校准程序初始化后由电子天平自动读取。举例来说，读取的是电子天平第一次空载时AD(模数转换)值x01。