[发明专利]电子天平量程校准方法

权利要求书

1.一种电子天平量程校准方法，所述方法包括以下步骤：

a)称量并记录电子天平第一次空载读数；

b)称量并记录电子天平加载已知质量砝码的读数；

c)称量并记录电子天平第二次空载读数；

d)根据第一次、第二次空载读数及加载读数求解新的灵敏度系数及零点修 正系数；

e)更新所述电子天平的灵敏度系数及零点修正系数。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤b)中所加载的砝码 为所述电子天平的满载值或小于该满载值的已知质量的砝码值。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤d)中，根据所述第 一、第二次空载读数的平均值及所述加载读数求解所述新的灵敏度系数。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤d)中，根据所述第 二次空载读数及所述加载读数求解所述新的灵敏度系数。

5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述步骤d)中，根据所 述第一次空载读数、第二次空载读数或两者平均值其中之一以及所述新的灵敏 度系数求解所述新的零点修正系数。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤a)中第一次空载读 数小于设定的第一阈值时有效，否则，要求清空称盘后重新执行步骤a)。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一阈值介于所述电子 天平的最小称量的1/5至2/3之间。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤c)的第二次空载读 数与所述步骤a)的第一次空载读数差异小于设定的第二阈值时有效，否则，要 求恢复步骤a)的称盘空载状态后重新执行步骤c)。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述第二阈值在10倍电子天 平实际分度值以内。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤e)之后还包括步骤：

f)当所述电子天平校准后空载读数不为零时，使电子天平当前空载读数清 零。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子天平包括外校天平 或内校天平。