[发明专利]一种交流信号采样中提高采样有效值精度的方法无效
申请号: | 200810039741.5 | 申请日: | 2008-06-27 |
公开(公告)号: | CN101614764A | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
发明(设计)人: | 谢建波;孔德刚 | 申请(专利权)人: | 上海亿盟电气自动化技术有限公司 |
主分类号: | G01R19/02 | 分类号: | G01R19/02 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵志远 |
地址: | 200042上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 交流 信号 采样 提高 有效值 精度 方法 | ||
技术领域
本发明涉及交流信号采样技术,特别是涉及一种交流信号采样中提高采样有效值精度的方法。
背景技术
现在所使用的断路器都是采用出厂直流分量修正,直流分量存储在EEPROM中,每次采样值都需减去存储的直流分量,累计64次后计算有效值。由于所有的电子元器件都存在一定的温漂现象,因此断路器在不同的温度环境下会有稍量的差异,也将影响采样精度。现有的断路器在强射频(对讲机)干扰下,测量误差会很大,会引起断路器误动作。
发明内容
本发明所要解决的技术问题就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种交流信号采样中提高采样有效值精度的方法。
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:一种交流信号采样中提高采样有效值精度的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
A.定义:
数组,用于存储采样值;
取值指针、存值指针,两指针初始均指向数组首地址;
直流分量存储器,用于存储直流分量;
累加值存储器,用于存储采样有效值的累加值;
B.每个采样周期内,均通过以下步骤来提高采样有效值的精度:
B00.检测是否到采样时间,若是,则执行步骤B10、B20,若否,则继续检测;
B10.从数组中取出取值指针当前指向的采样值,取值指针后移;
B11.计算采样值的有效值;
B12.计算采样有效值的平方值,并与累加值存储器的当前值相加,相加值存入累加值存储器,返回步骤B00;
B20.检测采样次数是否全部完成,若否,则执行步骤B21,若是,则执行步骤B22;
B21.进行采样,并将采样值存入存值指针当前指向的数组地址,存值指针后移,返回步骤B20;
B22.根据数组中的值计算直流分量,并存入直流分量存储器;
B23.根据累加值存储器中的值,计算高精度采样有效值。
所述的采样值为电流采样值或电压采样值。
所述的采样周期内的采样次数为64次。
所述的数组为64位数组。
所述的计算采样值的有效值为:滤除该采样值的直流分量,并进行交流分量修正,最后对其进行FIR滤波。
所述的计算直流分量为:累加数组中的全部采样值,并除以六十四。
所述的计算高精度采样有效值为:累加值存储器中的值除以六十四并开方。
与现有技术相比,本发明具有如下优点:
1、节省了工人调试直流电压的工序;
2、根据64点采样数据,实时计算直流分量,精确计算电流电压有效值;
3、在存储器损害后,可以得到正确的电流电压有效值;
4、在不同的温度环境下,都能正确测量到电流电压有效值;
5、在强射频(对讲机)干扰下,可以起到有效的抑制作用,防止断路器误动作。
附图说明
图1为本发明的流程图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步说明。
如图1所示,一种交流信号采样中提高采样有效值精度的方法,该方法包括以下步骤:
A.定义:
数组,用于存储采样值;
取值指针、存值指针,两指针初始均指向数组首地址;
直流分量存储器,用于存储直流分量;
累加值存储器,用于存储采样有效值的累加值;
B.每个采样周期内,均通过以下步骤来提高采样有效值的精度:
B00.检测是否到采样时间,若是,则执行步骤B10、B20,若否,则继续检测;
B10.从数组中取出取值指针当前指向的采样值,取值指针后移;
B11.计算采样值的有效值;
B12.计算采样有效值的平方值,并与累加值存储器的当前值相加,相加值存入累加值存储器,返回步骤B00;
B20.检测采样次数是否全部完成,若否,则执行步骤B21,若是,则执行步骤B22;
B21.进行采样,并将采样值存入存值指针当前指向的数组地址,存值指针后移,返回步骤B20;
B22.根据数组中的值计算直流分量,并存入直流分量存储器;
B23.根据累加值存储器中的值,计算高精度采样有效值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海亿盟电气自动化技术有限公司,未经上海亿盟电气自动化技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810039741.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。