[发明专利]判断待测面板的方法及其系统

说明书

技术领域

本发明主要涉及一种判断待测面板的方法及其系统，尤其是指一种利用判断伺服器自动判断待测面板等级的方法。

背景技术

习知技术之判断待测面板的方法，系利用操作员纪录待测面板的缺陷资讯，加以比对后，再给予待测面板一个等级，如待测面板系具有5个坏点(亮点或暗点)以内，给予待测面板系一A等级；品质较差的待测面板如具有5个坏点~10个坏点，则给予待测面板B等级(次一等级)，将生产好的面板依据面板的等级加以分类后，以便于出售。举例来说，A等级的面板多半卖给NB厂制作面板之用，价钱也较高；品质较差的面板，价钱较低，这些面板可以制作成一些对面板要求不那么高的电子产品。

先前技术对于待测面板的等级分类，可见于组立(Cell)制程的CT2测试及模组组装测试阶段，两个阶段的测试都系以人力纪录待测面板的缺陷资讯，根据这些缺陷资讯以一份对照表，以人力方式进行比对，比对出目前待测面板的等级，据此给予待测面板一个等级。

这种纯粹以人力作业的比对方式，其准确率易因操作员的精神状况不佳、精神集中度不够、突发噪音影响，造成的操作员分心，使得面板的等级分类不够确实。

发明内容

本发明之主要目的在于，提供一种判断待测面板的方法及其系统，其系以一判断伺服器判断待测面板的等级，解决习知技术可能发生的误判等级情况。

本发明之另一目的在于，提供一种判断待测面板的方法及其系统，其系可应用于CT2(检查站点)测试或模组组装测试，提升分类判断时的效率及准确性。

为了达到上述目的，本发明所采取的技术方案为，提供一种判断待测面板的方法及其系统，该系统系由判断伺服器及工作平台组成，本发明可应用于CT2测试、面板模组组装测试；判断伺服器与工作平台连接，判断伺服器内建复数面板等级，于工作平台输入每一定待测面板的缺陷资讯后，工作平台将缺陷资讯传递给判断伺服器后，由判断伺服器判断待测面板的等级，并将待测面板的等级回馈给工作平台；本发明系依照缺陷的项目数量与规格以判断伺服器判断待测面板的等级，可应用于ct2测试或模组组装测试，解决习知技术可能发生的操作员根据待测面板的缺陷资讯，比对面板等级时发生误判等级情况，且能提升面板分类时时的效率及准确性。

本发明的有益效果在于，提供一种判断待测面板的方法及其系统；其中，该系统系由判断伺服器及工作平台组成，本发明可应用于CT2测试、面板模组组装测试；判断伺服器与工作平台连接，判断伺服器内建複数面板等级，于工作平台输入待测面板的缺陷资讯后，工作平台将缺陷资讯传递给判断伺服器后，由判断伺服器判断待测面板的等级，并将待测面板的等级回馈给工作平台；以达到其解决习知技术可能发生的误判等级情况及提升分类判断时的效率及准确性的效果。

附图说明

图1为本发明之判断待测面板系统的示意图

图2为本发明之判断伺服器提供的表单之示意图

图3为本发明之一实施例之实施流程示意图

图4为本发明之判断伺服器提供F/I站的表单示意图

图5为本发明之另一实施例之实施流程示意图

图6为本发明之判断伺服器提供FV站的表单示意图

图7为本发明之判断伺服器提供FMA站的表单示意图

具体实施方式

为能详细说明本发明，请参照图1，首先说明本发明的判断待测面板的系统；本发明的判断待测面板的系统包括一判断伺服器12、一工作平台14，与判断伺服器12连接，工作平台14包括一输入装置18(键盘、鼠标)及一显示器16，可供操作员使用；判断伺服器12，内建有复数面板等级，判断伺服器12可内建的面板分类之等级不受限制，可根据需要进行调整，本实施方式系采用3种面板等级；

判断伺服器12所内建的资料，请同时参照图2，图示中所列举的各种面板于生产时可能发生的缺陷，如线缺陷、点缺陷、点距离、玻璃刮伤、偏光板刮伤、MURA测试结果、点状异物类聚集亮/暗点等等缺陷。

根据上面介绍的判断待测面板系统，以下继续说明本发明判断面板等级的一个实施方式，此判断待测面板的方法，请参照图3；首先进行步骤S12，输入一待测面板状态的缺陷资讯；输入待测面板状态的缺陷资讯系利用上面介绍的工作平台14进行者；请同时参照图4，图4系判断伺服器12所提供于显示器16上的FI表单；图4中的系包括线缺陷A、点缺陷B、偏光板C、Mura D、刮伤E等面板缺陷的主要问题，这些选项系一种下拉表单，每一个下拉表单内含许多详细的缺陷项目；