[发明专利]判断待测面板的方法及其系统

权利要求书

1.一种判断待测面板的系统，其包括：一判断伺服器及一工作平台，其特征在于，该判断伺服器，内建复数面板等级；又，该工作平台，与该判断伺服器连接，于该工作平台输入每一定待测面板的缺陷资讯后，该工作平台将缺陷资讯传递给该判断伺服器后，由该判断伺服器判断该待测面板的等级，并将该待测面板的等级回馈给该工作平台。

2.根据权利要求1所述之判断待测面板的系统，其中，该待测面板的缺陷资讯包括线缺陷、点缺陷、点距离、玻璃刮伤、偏光板刮伤、MURA测试结果、点状异物类聚集亮/暗点。

3.根据权利要求1所述之判断待测面板的系统，其中，该判断伺服器可设定至少3种面板等级。

4.根据权利要求1所述之判断待测面板的方法，其中，该工作平台包括一显示器及一输入装置。

5.一种判断待测面板的方法，其特征在于，其包括下列步骤：

输入一待测面板状态的一缺陷资讯；以及根据该缺陷资讯判断该待测面板的面板等级。

6.根据权利要求5所述之判断待测面板的方法，其中，判断该待测面板的面板等级系利用一判断伺服器进行。

7.根据权利要求6所述之判断待测面板的方法，其中，该判断伺服器可设定至少3种面板等级。

8.根据权利要求5所述之判断待测面板的方法，其中，该缺陷资讯包括线缺陷、点缺陷、点距离、玻璃刮伤、偏光板刮伤、MURA测试结果、点状异物类聚集亮/暗点。

9.根据权利要求6所述之判断待测面板的方法，其中，当该判断伺服器判断该待测面板的面板等级后，该判断伺服器可将判断后的结果与组立制程中的测试结果进行比对，如比对二者结果皆相同，则进续对下一待测面板进行该比对，如比对二者结果不相同，则重新输入该待测面板状态的该缺陷资讯，根据该缺陷资讯判断该待测面板的面板等级。

10.根据权利要求9所述之判断待测面板的方法，其中，该比对包括面板等级是否相同，如面板等级不相同，重新确认该待测面板的缺点数量，如缺点数量相同则将由该判断伺服器判断该待测面板的等级，如缺点数量不相同，则重新输入该待测面板状态的该缺陷资讯，并根据该缺陷资讯判断该待测面板的面板等级。

11.如申请专利范围第5项所述之判断待测面板的方法，其中输入该待测面板状态的该缺陷资讯系利用一工作平台。